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 2012年7月20日更新

 

SFF 8431に適合したコンプライアンス・テストパッケージを発表

SFF8431

QPHY-SFIによるコンプライアンス・テストの例

レクロイ・ジャパン株式会社は、SFF8431に適合したコンプライアンス・テストパッケージQPHY-SFIを日本国内で販売することを発表します。 QPHY-SFIは、10ギガビット・イーサネットで利用されるSFI/SPF+に対応するコンプライアンス・テストパッケージです。SFF8431に準拠しており、要求される試験項目を自動で実行する機能と、試験結果をPDF形式などで出力するレポート機能を併せもったパッケージです。

【SFP+テストをサポート】

SFIは、光信号と電気信号によって実現されるI/Oシステムです。SFF8431で規定される測定は、SFP+でも適用されます。標準のSFI / SFP +測定を行うことに加えて、レクロイのオシロスコープは、シリアル・データ解析パッケージの一部でTWDP測定を提供しています。

【先進のデバッグ機能】

コンプライアンス・テスト実行中に不良箇所を発見した場合、レクロイには原因を素早く、簡単に追究する数々のパッケージを用意しています。シリアル・データ解析パッケージSDAIIIは、同時にアイパターン表示とジッタ測定を行う機能を提供します。 またSDAIIIは、アイパターン表示やジッタ測定を通じて、問題の根本原因を簡単に識別することができます。レクロイのSDMパッケージは、アイパターン表示を行うのに最適なパッケージです。

【対応測定項目】

Host Tx out at B Tests(又はModule Tx in cal at B)

  • Rise/Fall Times
  • Transmitter Signal TO Noise(Qsq)
  • DDJ and DDPWS
  • Uncorrelated Jitter
  • Total jitter
  • Eye mask compliance Test

Lim. Module RX out at C(又はHost Rx in cal at C)

  • Rise/Fall Times
  • DDPWS
  • Total jitter and J2
  • Eye mask compliance Test

【オーダー・インフォメーション】

モデル名  
QPHY-SFI SFI対応コンプライアンス・テストパッケージ

QPHY-SFI 製品ページ

QPHY-SFI データシート(PDF)


【レクロイ・コーポレーションについて】

LeCroy Corporation は、シリアル・データ通信の解析分野において最先端の高度な測定・解析が行える計測機器を製造、販売しています。レクロイが提供する高性能のデジタル・オシロスコープ、シリアル・データ・アナライザ、プロトコル・アナライザは、コンピュータや半導体、データ・ストレージ機器、自動車や産業用機器、軍事産業、航空宇宙産業などの設計技術者に幅広く利用されています。LeCroy Corporationは48年間にわたり、革新的なテクノロジによって、特に波形解析において最高の評価を得てきました。高速信号の捕捉・計測・表示を行う波形解析は、今日の情報・通信テクノロジを促進するために必要不可欠となっており、LeCroy Corporationの持つ技術が大きく貢献できると確信しています。LeCroy Corporationはニューヨーク州チェストナットリッジに本社を置き、NASDAQに上場しています。詳細については、ウェブサイト(http://www.lecroy.com)をご参照ください。

なお、製品の仕様や発表内容は、予告なく変更されることがあります。

【この発表に関する問い合わせ先】

レクロイ・ジャパン株式会社
〒183-0006 東京都府中市緑町3-11-5
マーケティング・センター
Tel: 042-402-9400(代表) Fax: 042-402-9586
Email: contact.jp@lecroy.com
http://www.lecroy.com/japan

 

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