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物理層解析
DVI


DVI 計測システム #2
WaveMaster-DVI
  

クロック/ジッタテスト


クロックの安定度は、信号品質に直接影響します。クロックの位相変動をロングメモリを使って高精度に計測ができます。

上記の例では、1msに渡るジッタの計測を20GS/sの高速サンプリングで行っています。ジッタ・ノイズ・フロア1ps以下というジッタ測定性能がその測定精度を保証します。

図6 ODクロックのジッタ計測

クロック/データ信号のジッタ、スキュー


図7 クロック-データ間ジッタの測定ブロック図      図8VBAによるスキュー測定例

PLL回路のループ・バンド幅試験


DVIデバイスのキー・コンポーネンツであるPLL回路の応答特性は信号品質に大きな影響を与えます。

信号発生器から位相をステップ変動させたクロック信号をDVIデバイスに送り込み、再生されたクロック信号をオシロスコープで解析することにより簡単にPLL回路のループ・バンド幅試験を行うことができます。

位相変動を含む再生クロック信号よりTIEのジッタトラック波形を得ます。これを微分することによりインパルス・レスポンスを算出し、さらにFFT演算により周波数特性を導き出します。
 

図10 PLLループ・バンド幅の測定図

図9 Clock Recovery Unit Frequency Response

 

図11 PLLループ・バンド幅の測定

 

LeCroy DVI Resources
セミナー資料「DVI信号解析方法」 - PDF File Format - size 8.1 MB

 

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