テクニカルノート

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2023.3.7

  • デジタルフィルタの応用
  • 12 ビット高解像度オシロスコープ用電源レール・プロービング・オプション
  • SDAIII-CompleteLinQ を使用した アグレッサ On/Off 解析によるクロストークの特性評価
デジタルフィルタの応用 1.5MB
 

フィルタは、オシロスコープで信号を解析する際に便利な要素です。この TECHNICAL BRIEF では、その例を紹介しています。

 

12 ビット高解像度オシロスコープ用電源レール・プロービング・オプション 2MB
 

テレダイン・レクロイ社の 12 ビット高解像度オシロスコープを使って、組み込みシステムの電源レールをプロービングする方法は数多くありますが、特定のシナリオでは他の方法よりも効果的なものもあります。このアプリケーションノートでは、これらの強力なオシロスコープを使って 電源レールをプロービングする方法を比較検討します。

 

SDAIII-CompleteLinQ を使用した アグレッサ On/Off 解析によるクロストークの特性評価 4MB
 

高速シリアルデータシステムの設計者は、信号に存在するクロストークのレベルを以下の方法で評価することができます。SDAIII-CompleteLinQ には、リファレンスレーン、LaneScape 比較モード、Vertical Noise and Crosstalkパッケージなどの機能があり、送信機の構成でアグレッサOn およびアグレッサ Off の波形を解析することができます。このアプリケーションノートでは、この解析を行う方法と、ノイズやジッタの結果を理解して比較するための情報を提供します。

 

ローコスト電源レールプローブの作成 1.5MB
 

ほとんどのオシロスコープに付属している汎用の 10:1 パッシブプローブは、多くの用途に適していますが、中にはその限界から使用できないものもあります。ここでは、10:1 プローブでは対応できないようなアプリケーションに使用できる、低コストで自作可能なシンプルな電源レールプローブについて説明します。

 

テレダイン・レクロイ製モータ・ドライブ・アナライザによる小型モータの効率測定 1.5MB
 

モータおよびモータ駆動回路設計 の 90%以上は、家庭用、商業用、 または軽工業用途の設計となって います。このようなモータは、IEC や NEMA の厳格な効率基準を満 たす必要はありませんが、エンジニアは設計の効率を測定したいと考えています。テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザがあれば、高価で希少なダイナモメーターを使わずに、ベンチでドライブやモータの効率を測定することができます。

 

モータ・ドライブ・アナライザによるDB-DTFCのVolt-second センシング制御の解析 4MB
 

Deadbeat-direct torque and flux control(DB-DTFC)は高速なトルク変化とトルクを犠牲にせずに損失を制御出来、DC バス電圧を電圧制限動 作時に使い切る事が出来るため、 field-oriented 制御(FOC)や direct torque 制御(DTC)の代わりとして研究されています。 Volt-second センシング精度の評価には Volt-second を基準とした高精度 計測が必要になります。 テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザは、パワー半導体のスイッチング周期ごとにそのような機能を提供します。

 

パワー半導体デバイスの解析 1.5MB
 

テレダイン・レクロイのPWR ソフトウェア・オプション は、エンジニアがパワーデバイスの測定を迅速かつ簡単に行うことを可能にします。スイッチングステートごとに色分けされたオーバーレイにより、直感的でわかりやすい測定が可能です。この資料では、デバイスの測定機能の概要と、最も正確で一貫性のある結果を得るための測定の設定方法について説明しています。

 

Sパラメータの一般的な問題を避ける
-ポートをどのように割り当てるかが 、測定値の解釈に影響を与える
1.5MB
 

Eric Bogatin(Bogatin Enterprises) /
Alan Blankman (LeCroy)著

S-パラメータ(散乱パラメータ)は、インターコンネクトの電気的特性を記述するためのデファクトスタンダードとなっています。これは周波数領域を扱うマイクロ波設計者と、時間領域を扱うデジタル設計者の世界をつなぐいくつかのコンセプトの一つです。コネクタ、オシロスコープ用プローブ、回路基板のトレース、回路基板のビア、ケーブルなどインターコネクトの電気的特性について知りたいことは、すべてSパラメータに含まれています。しかし、入力と出力にポート・インデックスを割り当てる際には、一貫した方法を用いる必要があります。

 

モータ・ドライブ・アナライザを使用した六相モータの解析 1.5MB
 

三相を超えるモータは冗長性と高信頼性を必要とするアプリケーションに向いています。MDAは、両方の巻線セットから電圧と電流の信号を取得し、静的および動的な電力消費を測定し、2つの巻線セット間のバランスを計算します。

 

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザで直交エンコーダ・インタフェース(QEI)を使用する 1.5MB
 

QEIの様なデジタル・エンコーダは、モータ駆動制御システムにモータ・シャフト速度と角度情報を提供します。 MDA は容易にこれらを解釈し、機械的パワー計算に使用するため、基準スピード・フィードバック信号との比較のため、または他の制御とパワー信号との比較のために使用できる速度と角度の値に変換します。

 

WavePulser 40iX 立ち上がり時間および空間分解能 1.8MB
 

様々なタイプのシステムについて、立ち上り時間、帯域幅、時間的・空間的分解能の間の複雑な関係を探り ます。WavePulser 40iXは、DC から 40GHzまでの校正されたインピーダンスプロファイルを計算できる測定器で、電気長 5.575ps 、約 1mmの長さのトレースのインピーダンスを分離できることが示されています。

 

WavePulser 40iXによるディエンベッド 1.5MB
 

WavePulser 40iXには多くのディエンベッド方法が用意されています。このテクニカルブリーフでは、これ らの方法について説明し、最高の結 果を得るために読者が機器に何をする必要があるかを理解できるように しています。

 

12 ビット高分解能オシロスコープによるパワーレール過渡応答の解析 1MB
 

パワーディストリビューションネットワーク(PDN)設計の一般的なテストの1つは、システム内の各パワーレールおよび複数のレールの過渡応答を解析することです。このアプリケーションノートでは、テレダイン・レクロイの12ビット高分解能オシロスコープを使用して、PDNのレール過渡応答を解析する方法を説明します。

 

10x パッシブ・プローブを最大限に活用するために 1MB
 

一般的に広く使われていますが、誤解されていることも多い10xパッシブ・プローブは、どのオシロスコープにも付属しています。広く使える汎用性の高いツールです。しかし、その限界を理解し、使用する際には考慮しなければなりません。ここでは、10xパッシブ・プローブで良好な測定結果を得るためのベスト・プラクティスを説明します。

 

12 ビット高解像度オシロスコープ用電源レール・プロービング・オプション 1MB
 

テレダイン・レクロイ社の12ビット高解像度オシロスコープを使って、組み込みシステムの電源レールをプロービングする方法は数多くありますが、特定のシナリオでは他の方法よりも効果的なものもあります。このアプリケーションノートでは、これらの強力なオシロスコープを使って電源レールをプロービングする方法を比較検討します。

 

テレダイン・ レクロイのモータ・ドライブ・アナライザで直交エンコーダ・インタフェース (QEI)を使用する 1MB
 

QEIの様なデジタル・エンコーダは、モータ駆動制御システムにモータ・シャフト速度と角度情報を提供します。MDAは容易にこれらを解釈し、機械的パワー計算に使用するため、基準スピード・フィードバック信号との比較のため、または他の制御とパワー信号との比較のために使用できる速度と角度の値に変換します。

 

モータ・ドライブ・アナライザによる DB-DTFC のVolt-second センシング制御の解析 1MB
 

Deadbeat-direct torque and flux control(DB-DTFC)は高速なトルク 変化とトルクを犠牲にせずに損失を制御出来、DCバス電圧を電圧制限動作時に使い切る事が出来るため、field-oriented 制御(FOC)や direct torque 制御(DTC)の代わりとして研 究されています。Volt-second センシング精度の評価には Volt-second を基準とした高精度 計測が必要になります。 テレダイン・レクロイのモータ・ド ライブ・アナライザは、パワー半導体のスイッチング周期ごとにそのような機能を提供します。

 

【ブログ記事】ミックスモード Sパラメータの紹介 1MB
 

シングルエンドからミックスモードのSパラメータに移行する方法と、そこから得られる新たな情報について紹介します。これは、今後、車載イーサネットのコンプライアンスのために行われるMDIのSパラメータ試験を検討する際に役に立ちます。

 

【ブログ記事】シングルからミックスドモード S パラメータへの変換 1MB
 

シングルエンドの Sパラメータをミックスモードの Sパラメータに変換する方法をご紹介します。

 

MAUI Studio Pro Signal Generator機能を使った数式による波形作成 2MB
 

MAUI Studio ProのSignal Generator機能で波形を作成する際、最も正確な方法は数式による記述です。このアプリケーションノートでは、一般的に使用される波形の例と、それを記述する数式を紹介します。また、広く一般的に応用可能な波形作成テクニックも紹介します。


MAUI Studio Pro Signal Generator 機能を使った数式による波形作成 1MB
 

MAUI Studio Pro の Signal Generator 機能で波形を作成する際、最も正確な方法は数式による記述です。この資料では、一般的に使用される波形の例と、それを記述する数式を紹介します。また、広く一般的に応用可能な波形作成テクニックも紹介します。


静電気放電(ESD)に対するイミュニティ試験 ─ 正確な ESD シミュレータ検証技術 500K
 

この資料では、ESD 放電パルス波形の正確な特性評価・検証に必要な注意事項について解説し ます。


オフライン解析ソフト MAUI Studio ProのLabNotebookを使ったソフトウェアの『引き継ぎ』について 600K
 

テレダイン・レクロイの MAUI Studio Pro は、LabNotebook 機能を拡張しており、セットアップや波形を読みこむだけでなく、ソース・オシロスコープのユーザー・インタフェース(インストールされている全てのソフトウェア・オプションを含む)を読みこむことができます。


オシロスコープソフト XDEVでMatLabスクリプトを使用する際に3つ以上の入力を指定する 600K
 

XDEVで MatLabを使用する場合、演算や計測パラメータの設定メニューからは2つの入力しか指定できません。3つ以上のソースを使ってカスタム演算や計測パラメータを作成する方法を示します。


オシロスコープを使ったSENTセンサ情報の新しい解析手法 600K
 

この資料では、オシロスコープを使ってSENTセンサ情報を解析する新しい手法を紹介します。CANバスの基礎知識を説明した後、オシロスコープを使ってネットワーク機能を測定し、デバッグするための細かいポイントを説明します。


他社製オシロスコープの波形データをMAUI Studioに取り込む 400K
 

この資料では、他社製の測定器で保存した波形データをMAUI Studio に読み込む方法について説明します。


オシロスコープによるCAN/CAN FDバスのデバッグ 700K
 

この資料では、CANバスの基礎 知識を説明した後、オシロスコープを使ってネットワーク機能を測定し、デバッグするための細かいポイントを説明します。


WavePulser 40iX のダイナミックレンジ 700K
 

この資料では、TDR 計測器のダイ ナミックレンジがどのように計算されているかを解説します。 Teledyne LeCroy WavePulser40iX 高速インターコネクト・アナ ライザのダイナミックレンジについて述べ、当社の前製品であるSPARQ と比較します。


SENTの基本:SENT SPCの安定したMTPの検証 700K
 

このアプリケーション・ノートでは、SENT SPC プロトコルについて説明し、Teledyne LeCroy オシロスコープを使用したマスター・トリガ・パルス(MTP)長の妥当性検証の方法を示します。


【ブログ記事】USB4 電気試験:現状報告 700K
 

電気的テストの方法論は以前のUSB3.2コンプライアンス・テストと似ていますが、USB4は主にTBT3物理層に基づいており、これらのテスト方法が採用されています。ここでは、前述のドキュメントで呼び出されたUSB4/TBT3テストアプローチを要約します。


Windows10 オシロスコープ 500K
 

Windows10オシロスコープの使用前に知っておきたい設定方法、注意点など


GaNデバイスを採用した48V系パワーエレクトロニクスに最適な 60Vコモンモード差動プローブ DL-HCM 500K
 

トレンドとなっている 48V系 パワーエレクトロニクス製品の開発に要求される仕様を満たす差動プローブをご紹介します。


選択的アベレージ~交互にくる波形を別々に平均する 500K
 

物理計測において交互に出力される2つのパルスを別々に 平均化したい場合があります。 XDEV(高機能カスタマイズオプション)を使用して実現した例を示します。


【ブログ記事】パワー・インテグリティの基礎: ボードの汚染 500K
 

ボードの汚染は、VRMから消費デバイスに電流を流すパッケージと相互接続(トレースとプレーン)上で発生するノイズです。発生する可能性のある場所の1つは、VRM自体からのものです。たとえば、VRMが生成するスイッチングノイズがあります。


【ブログ記事】パワー・インテグリティの基礎: 自己攻撃性ノイズ 500K
 

自己攻撃性ノイズは、通常の動作を通じて部品そのものによってそれ自体に加えられるため、そのように呼ばれます。システム内の他の何もそれに影響を与えていません。これを探すときは、ノイズ環境がかなり明確な場所(たとえば、デバイスが評価ボード上にある)で、システムが定常状態にあることを確認する必要があります。


【ブログ記事】パワー・インテグリティの基礎: PDNノイズの特性評価 500K
 

パワー・インテグリティは、組み込みシステムでの発電から消費までの電 力品質の維持に関係します。「良好な」パワー・インテグリティは、ノイズ・レベルを許容範囲内に保つこととして定義できます。 この短いシリーズでは、電力供給ネットワーク(PDN)のノイズの特性評価に焦点を当て、これらの許容誤差を満たすために設計を調整する必要がある場所を知ることを目的としています。


EMC 試験設定例 IEC61000-4-5 : 雷サージ試験 1.5MB
 

この資料では、IEC61000-4-5 雷サージ試験で使用する試験波形をオシロスコープで確認する際の設定例を示します。 設定には EMCパルスパラメータ・オプションを使用しました。 波形は任意波形発生器で生成したダミーの波形を使用しています。


EMC 試験設定例 ISO7637-3:過渡サージ試験 1.5MB
 

この資料では、ISO7637-3:過渡サージ試験で使用する試験 波形をオシロスコープで確認する際の設定例を示します。設定にはEMCパルスパラメータ・オプションを使用しました。波形は任意波形発生器で生成したダミーの波形を使用しています。


WavePulser 40iX パルサー繰り返しレートと周波数分解能 1.5MB
 

この資料では、時間領域への影響が重要なシグナル・インテグリティ・アプリケーション用に行われるSパラメータ測定の重要なトピックについて説明します。WavePulser 40iX の2つの重要な設定を決定するための推奨事項が記載されています。

  • TDR 捕捉長-パルサーの繰り返し速度に関連していま す
  • 周波数ポイント数-これはエンド周波数と必要な周波数分解能に関連しています

WavePulser 40iX Second-Tier 校正 1.5MB
 

この資料では WavePulser40iXで使用される、内臓自動校正、マ ニュアルおよび Second-Tier(二段階)校正を含む3つの校正方法について議論します。手動校正と Second-Tier 校正、および機器の工場出荷時校正の方法についての手順も示します。


時間領域技術を用いたディエンベッドおよびインピーダンス・ピーリング 1MB
 

この資料では、タイムゲーティングとインピーダンス・ピ ーリングと呼ばれるWavePulser40iXで利用可能なディエンベッドのための時間領域技術について解説します。また、これらの時間領域技術をカップリング・ラインで利用する方法についても検討します。


高感度電流プローブと低ノイズ12ビット・オシロスコープによる微小電流測定例 1MB
 

従来のオシロスコープと電流プローブでは、mAオーダーの微小電流を測定する事が困難でしたが、日置電機製の高感度電流プローブと、テレダイン・レクロイの低ノイズ12ビット・オシロスコープを組み合わせることで、微小電流をクリアに測定することができるようになりました。


テレワーク支援・業務効率改善のご提案 1MB
 

テレワーク支援サイト、テレワークに役立つ(無料)解析ソフトウエアの紹介、業務効率の改善につながる機能をまとめました。


(無償)波形解析ソフトウエアの WavePulser の使い方   2.3MB
 

「テレワーク・在宅勤務」、「感染リスク低減」、「評価期間の短縮」などに役立つ(無償)波形解析ソフトウエアWavePulserの機能・使い方などをご紹介します。


【ブログ記事】時間軸から周波数軸に変換 160K
 

基本的に、オシロスコープは時間軸の機器であり、被試験回路やデバイス からの信号を捕捉するのに用い、時間軸波形として表示します。縦軸が信号の電圧値、横軸が時間軸で、電圧値が時間と共にどのように変化するかを観測します。


【ブログ記事】高速フーリエ変換におけるデータの切り捨て 1MB
 

前回の記事では、離散フーリエ変換を用いてオシロスコープで捕捉された時間軸の信号をどのようにして周波数軸に変換するかを見てきました。フーリエ変換の使用は繰り返し信号でしか有効でなく、捕捉時間の逆数である最初の基本波の高調波でのみ識別できないことに言及しました。 今回は高速フーリエ変換(FFT)と知られる数学的トリックを見てみましょう。


【ブログ記事】高速フーリエ変換の窓関数について   1MB
 

FFT 計算の 2 つ目の注意点は、より深刻で混乱の原因となります。窓関数 に関する優れた情報としてナショナル・インスツルメントが発行するアプ リケーション・ノートがあります。FFTの窓関数について解説します。


T3AWG3Kシリーズ任意波形発生器と波形編集ソフトウェア・ユーティリティを使用したマルチキャリア波形生成 1.6MB
 

マルチキャリア試験シナリオを生成するには、複数のジェネレータを使用することと、それらを組み合わせるためのマルチプレクサが必要となります。これにより、セットアップが非常に複雑になり、信頼性が低下することもあります。Waveform Editor SWユーティリティとともに高分解能(16ビット)T3AWG3KシリーズやのようなAWGを使用すると、タスクを簡単で柔軟性に優れたものにすることができます。このLAB Briefでは、LFM(Linear Frequency Modulation)でチャープされた5つのキャリアトーンで信号を作成する方法について説明します。


MDA810 モータ・ドライブ・アナライザを使用したAC入力の 動的パワーおよび 高調波解析 1MB
 

可変周波数モータ・ドライブは非常に大きな運用と制御面でのメリットがあります。しかし、モータの動的制御を可能にするには、研究開発中に検証、デバックと同等の動的な解析能力が必要となります。 テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザ(MDA)はサイクルごとのパワーと高調波歪み値を動的に計測し、波形としてプロットしてそれらの値をAC入力波形と容易に相関をとることが出来ます。


テレダイン・レクロイ MDA810 モータ・ドライブ・アナライザで CAN デジタル・データを回転速度計算に使用する 1.5MB
 

Controlled Area Network (CAN)シリアル・データ・プロトコルは車載および産業アプリケーションにおいて、シリアル・バスを介して情報を伝送します。モータ・アプリケーションにおいては、CANデータはデジタル・エンコードされた電気モータのシャフト速度を含むことがあります。MDAはこのエンコードされたデータを抽出し、アナログ値に変換、再スケーリングしモータ・シャフト回転速度として使用する事が出来ます。


正確なライン-ライン to ライン-中性点変換による二電力計法と三電力計法の電力計算 1MB
 

二電力計法は三相システムにおいて必要となる入力チャンネル数を6から4に減らします。 この方法で各ライン-ライン電圧とライン-ニュートラル電流ペアにより計算された電力値は、三相電力合計値は正しいですが、相ごとには一致もしくは平衡しません。しかし、モータ・ドライブ・アナライザ(MDA)はライン-ライン to ライン-中性点変換を実施し、正確で平衡した各相電力値が表示され、適切な三相システム動作の理解を助けます。


テレダイン・レクロイの車載イーサネット試験ソリューション 1.5MB
 

自動運転を始め現在の車は大量のデータを処理することが求められていて、それに見合う高速のネットワークが必要とされていま す。低コスト、ハーネスの軽量化、高い信頼性などハードルは高いのですが、既存のイーサネット技術をベースとした車載イーサネッ トに注目が集まっています。 テレダイン・レクロイは、車載イーサネットのコンプライアンス・テスト・ソリューション、デバッグ・ツールキット、ハーネスの評価/デバッグが可能な軽量小型のTDR計測器を提供し、トータルでサポートしています。


テレダイン・レクロイのパワーエレクトロニクス解析ソリューション 2MB
 

世界的な省エネの潮流により、電源、モータ、インバータや、自然エネルギーに用いるパワコンなどの高効率化の要望が急速に高まっています。しかしながら、こうした要望に対応する機器の設計/開発には技術的に困難な課題があり、新しい技術が次々に投入されています。
テレダイン・レクロイでは、こうした新しい技術に対応し、高精度で高機能な評価/試験ソリューションを用意し提供しています。


【ブログ記事】DDRメモリテストの落とし穴を取り除く 500K
 

1990 年代半ばに標準化されて以来、デュアル・データレート(DDR )SDRAMメモリは、ほぼどんなコンピュータでも使用されています。インタフェースのテストにおいては、いくつかの重要なベストプラクティスに従う必要があります。いくつかのベストプラクティスを見てゆきます。


【ブログ記事】DDRメモリテスト パートII: インタポーザの使用 300K
 

チップ・インタポーザの必要とされるケース、インタポーザを用いてテストする際の注意点などを解説します。


【ブログ記事】 DDRメモリテスト パートIII:してはいけないこと 300K
 

測定精度に悪影響を与えたり、プロービング・セットアップを台無しにしたりすることがある「ワーストプラクティス」について解説します。


【ブログ記事】 DDRメモリテスト パートIV: 試験の準備 300K
 

この DDR メモリ試験のシリーズで、今で3つの記事で従来からあるプロ ービングやインタポーザの利用あるいはダンピング抵抗に関わる機械的問 題の懸念を示しました。ここからは、DDR 試験自身についてメモリ・インタフェースを検証するための DDR 信号の発生方や正しい試験結果を得 るための Read/Write バースト・パターンの切り分け条件など、予備知識について考えます。


【ブログ記事】車載イーサネットの基礎 500K
 

車載イーサネットは多くの機能を処理します。この資料では車載イーサネットの基礎を解説します。


【ブログ記事】BroadR-Reachプロトコルの基礎 500K
 

前回の記事では、プロトコルの開発に影響を与えた物理的/機械的制約と業界の動向に焦点を当てて、車載イーサネット技術の概要を説明しました。次にBroadR-Reachプロトコルを詳しく見てみましょう。


【ブログ記事】なぜ、車載イーサネットなのか? 300K
 

前回の記事では車載イーサネット全般、特にBroadR-Reach プロトコルを主題にして検討してきました。今回の記事では、これらのプロトコルを使用することの利点のいくつかを自動車環境で使用されている他のいくつかのプロトコルと比較しながら見てみましょう。


【ブログ記事】BroadR-Reachと100Base-T1の比較 300K
 

今回の記事では、BroadR-Reachアプリケーションをもう少し詳しく見ていき、100Base-T1との違いについても説明します。


【ブログ記事】車載イーサネット試験の基礎 500K
 

以前、「車載イーサネットの基礎」でその利点と BroadR-Reach の詳細に ついて説明しました。次のトピックでは、プロトコルのテストと物理層の テストに必要な機器の概要について説明します。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験入門 500K
 

ほとんどのネットワーキング方式と同様に、車載イーサネットは、特定のシステムのさまざまなコンポーネントが確実に相互間で信号をやり取りするように標準化されています。プロトコルの規格がある場合は、その規格に準拠しているかどうかもテストする必要があります。この記事は、車載イーサネット規格のPhysical Media Attachment(PMA)のコンプライアンス試験を詳述したシリーズものの第一弾になります。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:5つの試験モード 500K
 

前回の記事に続いて、100Base-T1 プロトコルのコンプライアンス・テストスイートを構成する 5 つの試験モードの概要を紹介します。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験のセットアップの概要 500K
 

各種の車載イーサネットの電気的コンプライアンス試験について解説します。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験の詳細(パートI) 500K
 

これまでの記事で、車載イーサネットのコンプライアンス試験の基礎と5つの試験モードおよび試験セットアップの概要について説明してきました。 ここでは、物理層の電気的試験について解説します。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験の詳細(パートII)   500K
 

前回の記事では、7 つの試験のうちの最初の 2 つ について説明しました。最大送信機出力ドループと送信機クロック周波数 です。それでは、マスターモードとスレーブモードでの送信機のタイミン グジッタを見てみましょう。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験の詳細(パートIII) 500K
 

100Base-T1 仕様で車載イーサネットに指定されているコンプライアンス 試験の中で、送信機歪み試験よりもセットアップが複雑なものはありません。以前の記事で説明した送信機タイミングスレーブジッタ試験と同様に、DUT の送信クロック(TX_TCLK)にアクセスする必要があります。この テストでは DUTの試験モード#4 を使用し、デバイスに送信される妨害正弦波を導入します。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験の詳細(パートIV) 500K
 

これまで、車載イーサネットのコンプライアンス試験の詳細な説明を続けてきて、前回の投稿では、歪み試験を扱いました。ここでは、送信機パワースペクトル密度の試験を最後としてコンプライアンス試験ソフトウェアの紹介のまとめとします。


【ブログ記事】車載イーサネットのコンプライアンス試験:試験装置の必要条件 500K
 

これまで、車載イーサネットのコンプライアンス試験全般を詳しく見てきましたので、 試験の実施に必要な試験機器の紹介をしましょう。オシロスコープ自体と、必要な補助機器、テスト・フィクスチャ、プローブ、ケーブルなどでどのようなニーズがあるかを見てみましょう。最後には自動コンプライアンス 試験ソフトウェアについて簡単に説明します。


【ブログ記事】100Base-T1 イーサネットの基礎 1.5MB
 

このアプリケーションノートでは、100Base-T1 車載イーサネット・プロトコルのトポロジとフレーム構造について説明します。


【ブログ記事】自動車の中のイーサネット 1MB
 

すべての車載イーサネット技術は、1 本のツイストペアケーブル (T1)を使用し、ポイント・ツー・ポイントのネットワークトポロジを採用しているため、違いは主にデータレートとエンコード方法になります。


【ブログ記事】モード変換 1MB
 

ミックスモードSパラメータは、差動信号と同相信号の組み合わせの一般的な場合を表します。ミックスモードのSパラメータでモード変換というと、伝送路を通過する際に差動信号が同相信号に、または同相信号が差動信号に変化することを指しています。


【ブログ記事】車載イーサネット MDI Sパラメータ試験 1MB
 

すべての車載イーサネット規格では、MDI(Medium Dependent Interface)で実施するSパラメータ試験が定義されています。この資料では車載イーサネット MDI Sパラメータ試験を解説します。


【ブログ記事】IoTのデバッグ 500K
 

今では、「モノのインターネット(IoT)」が身近になっています。設計者/技術者としてIoTのコンセプトに直接関わっている人もいるもいるかもしれません。ここではIoTに関する一連の記事を、その概要についての説明から始め、その後オシロスコープと関連ハードウェア/ソフトウェアがIoT関連デバイスの設計とデバッグに使用できる最良のツールであることを確認します。


【ブログ記事】IoTデバイスの構造 500K
 

IoT デバイスの増加に伴い、対応するデバッグツールの必要性も生じています。デバッグするIoT デバイスの中には何があるか解説します。


【ブログ記事】IoTのデジタル電源管理とパワーインテグリティ 300K
 

この記事では、IoT の電源における適切なデジタル電源管理の実装とパワーインテグリティについて調べる方法を説明します。


【ブログ記事】IoTのワイヤレス信号の検査
(パートI)
300K
 

多くのIoTデバイスは他のデバイスまたはホストシステムと通信するために無線を使用します。電源レール信号と同様に、RF信号のプロービングは、できるだけ少ないノイズで、できるだけDUTへの影響を少なく、可能な限り最高の信号忠実度で行う必要があります。


【ブログ記事】IoTのワイヤレス信号の検査
(パートII)
300K
 

前回の投稿では、Bluetooth Low Energy(BLE)アドバタイズ・バ ーストなどの RF バーストの振幅および周波数復調の実行方法について説 明しました。 続けて、RF 信号を分析する他の方法を解説します。


【ブログ記事】IoTのセンサ信号の捕捉と評価 300K
 

「モノのインターネット(IoT)」デバイス の構成に関する以前の記事を思い出すと、こうしたデバイスの主な機能の1つとして、その環境を検知し、収集したデータをデジタル化することがあります。多くの場合、IoTデバイスはその環境に関する情報を収集するために多くのセンサを使用します(図1)。多数のセンサーからの信号を同時に捕捉して解析する機能を持つことは、IoTデバイスの設計の適切かつ最適な機能を保証するために重要です。


【ブログ記事】IoTデバイスの低速シリアル・バスのデバッグ 300K
 

前回の記事では、IoTデバイスなどの高度な組み込みシステムに入力される可能性がある多くのセンサ信号を捕捉することの難しさと、その問題に対するハードウェア・ソリューションについて説明しました。IoTのデバッグと検証のもう1つの側面は、IC間およびコントローラと周辺機器間の通信を容易にするために使用される低速シリアルデータ規格があります。そのために、3つの低速規格、I2C、SPI、およびUARTを見てみましょう。


【ブログ記事】IoTデバイスのCANバスのデバッグ   300K
 

前回の記事では、I2C や SPI、UART について説明しました。IoT デバイスの CAN バスのデバッグを見てみます。


【ブログ記事】IoTデバイスのイーサネット、SATA、PCI Expressのデバッグ 300K
 

これまで「モノのインターネット(IoT)」デバイス用のシリアルデータ規 格のデバッグを見てきましたが、さらに 3 つの一般的なプロトコル、イー サネット、SATA、およびPCIeに目を向けましょう。


【ブログ記事】IoTデバイスのDDRメモリのデバッグ(パートI) 500K
 

IoT デバイスのデバッグとして DDR メモリに関する考察をいくつかご紹介します。


【ブログ記事】IoTデバイスのDDRメモリのデバッグ(パートII) 500K
 

前回の記事では「モノのインターネット(IoT)」デバイスの DDRメモ リのデバッグを多様な角度 (インタポーザがプロービングにどのように役立つか、Virtual-Probe ソフトウェアの利点など)から考察しました。それでは、これらのメモリチップとそのコントローラに関する問題の例をいくつか見て、オシロスコープを使ってどのようにデバッグができるかを見てみましょう。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを使用した 研磨機のサイクルごとモータ解析 500K
 

複雑な産業機械は、モータ・ドライブを使用し工業プロセスをより高精度にしています。サイクル周期ごとの解析アルゴリズムに基づいてモータとドライブ電気動作を完全に理解することは、このFritz Studder AG製円筒研磨機の場合のように、モータと駆動回路がどのように反応するかを理解するのに役立ちます。


テレダイン・レクロイ モータ・ドライブ・アナライザを用いたモータの動的急加速損失測定 500K
 

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザは、実稼動中のモータと駆動効率をより良く理解するために、動的(過渡的)損失を測定するのに理想的です。さらに、モータ・ドライブ・アナライザは、既知のモータ定数を使用して鉄損および銅損成分を導出し、それらをエンジニアリングモデルおよび駆動制御フィードバック回路と比較することができます。


LabNotebook .zip アーカイブを再構築する 500K
 

破損した LabNotebook .zip ア ーカイブを再構築して、データ ベースを保存したり、保存され た測定をフラッシュバックし たりできるようにする方法に ついて説明します。


XDEV オプション活用例 ~カスタムスクリプトによる動的なオシロスコープの設定変更 2MB
 

Teledyne LeCroy のオプショ ンのひとつに XDEV(高機能カ スタマイズ・オプションがあり ます。)これは強力なカスタマ イズ機能をオシロスコープに 追加します。今回はひとつの例 として、波形の捕捉ごとに動的 にオシロスコープの設定を変 更し、オフセットを補正して積 分演算を行うサンプルをご紹 介します。


カスタム・パワー・パラメータの作成 3MB
 

スイッチングデバイスの特性評価の際に、様々な社内評価基準に従うために標準の計測パラメータではカバーできないカスタムのパラメータが必要となる場合があります。
この資料では、テレダイン・レクロイ製オシロスコープの機能を用いていくつかのカスタム・パワー・パラメータを作成する例をご紹介します。


ハーフブリッジ回路のデッドタイム検査 2MB
 

ハーフブリッジ回路中のハイサイドとローサイドの同時スイッチングによる短絡故障を防ぐためにデッドタイムの仕様が設けられています。このデッドタイムを検査するサンプルをご紹介します。 また特に実測に困難が伴うハイサイドゲート駆動波形を測定するのに最適な光アイソレーションプローブの実測比較もご紹介します。


エンハンスド・サンプリング・レート・モード
計測精度
1MB
 

HDO4000A、HDO6000A、HDO8000A、MDA800Aオシロスコープにおいて低ノイズシステムアーキテクチャと、ブリック-ウォールに調整された周波数応答と組み合わされたエンハンスド・サンプリング・レートは、高周波の正弦波や高速立ち上がりエッジなどのような入力信号が非常に高い周波数の場合の計測制度を劇的に改善します。


テレダイン・レクロイの電源ノイズアナライザ 1.5MB
 

IoT時代のパワーインテグリティ問題やPDNの解析、電源ノイズ解析でおこる様々な課題を解決します。

  • 測定系のノイズが大きくて微小な電源ノイズが観測できない
  • 高周波の周辺ノイズが混入して電源ノイズが観測できない
  • プローブの負荷効果で、電源レールの電圧が低下してしまう 他

高分解能オシロスコープ 設計アプローチの比較 4MB
 

高分解能は広い範囲の広帯域オシロスコープで売り文句となっています。オシロスコープ・メーカーは分解能を増すために様々なハードウェアとソフトウェア設計アプローチをとっています。いくつかの方法では特性のトレードオフが発生します。このホワイトペーパーは、それらがオシロスコープ性能にどの様に影響するかの例を交えながら様々な高分解能設計アプローチの概要を解説します。


【ブログ記事】オン・ダイ電源レール計測 パート I 300K
 

オン・ダイの電源レール測定に関する私たちの探求では、これらの測定のいくつかの例を示してきました。以前の記事でも触れましたが、DUTとしてAtmel 328マイクロコントローラのデモボードを使用し、この目的のために制御する為のファームウェアと、計測すべき信号用にボードの底面に配置した同軸ケーブルを準備します。


【ブログ記事】オン・ダイ電源レール計測 パート II 500K
 

オン・ダイ電源レール測定を開始する準備が整ったので、ちょっと前に戻って、これらの測定値が何を示すべきかを予測することをお勧めします。CMOSゲートがオンとオフに切り替わるときに実際にダイ上で何が起こるでしょうか?オン・ダイ電源レールにはどのようなことが見られるでしょう?クロックのエッジでは何が起きるでしょうか?


【ブログ記事】オン・ダイ電源レール計測 パート III 500K
 

オン・ダイ電源レール測定のセットアップと、テストで期待される結果の 以前の記事を事前に読んで測定を行い、その結果を見てみましょう。また、 その結果が期待通りか、期待外れであるのかにも注目します。


【ブログ記事】共有されたオン・ダイ電源レールの測定 300K
 

ダイのI / O電源レールがコア電源レールと共有されている場合に、コア電源レールの測定値を取得する方法などを紹介します。


【ブログ記事】オン・ダイ電源レール計測のセットアップ  500K
 

HDO8108AオシロスコープとRP4030アクティブ電源レール・プローブの組み合わせを使用したオンダイ電圧ノイズ測定を取り上げます。


【ブログ記事】電源レール計測時の高周波混入の理解 1MB
 

パワーレール上のノイズを測定することは単純なことです。しかしながら、間違った、あるいはおかしな結果をもたらす可能性があるいくつかの落とし穴があります。これらの課題の1つ、RFピックアップを見てみましょう。


【ブログ記事】10:1プローブがどれほどS/N比を劣化させるか 500K
 

マイクログリッパで行う測定と比較して、10:1プローブで行われた電源レール測定ではどんな効果があるかを解説します。


【ブログ記事】電源レール測定における帯域 vs 電流負荷 500K
 

ここではDUTの電流負荷を最小限に抑えながら、高い測定帯域幅を達成する方法を取り上げます。


【ブログ記事】電源レール・ノイズ: 微小信号、大きな直流オフセット  500K
 

レール上の電流負荷を減らすために高い直流インピーダンスが必要です。大きな直流電圧オフセットのある非常に低いレベルの信号を見る方法を紹介します。


HDOオシロスコープのスペクトラムアナライザ・モード 1MB
 

HDO4000およびHDO6000オシロスコープでの周波数成分の表示と解析を容易にするスペクトラムアナライザ・モードの解説、使用方法を紹介します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートI 300K
 

良好な計測結果を得るためのおそらく最も重要な要素のプロービング。プロービングの手法とトレードオフを紹介します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートII 300K
 

理想のプローブと実際のプローブの比較をしてプローブの仕様について考えてみましょう。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートIII 300K
 

オシロスコープやプローブではアナログ帯域が必ず議論となります。ここでは帯域について解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートIV 300K
 

プローブの帯域と信号の立ち上がり時間の関係を検証してみましょう。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートV 300K
 

プローブの負荷効果について解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートVI :ダイナミックレンジ 300K
 

ここでは、オシロスコープのプローブを選択する際に見逃されることのある重要なトピック「ダイナミックレンジ」について解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートVII :ダイナミックレンジ(続き) 300K
 

ここでは前回に引き続き、ダイナミックレンジについてさらに詳しく解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートVIII:ゲイン/減衰率 VS ノイズ 300K
 

オシロスコープのプローブのダイナミックレンジの内部ゲイン/減衰器とノイズとの関連について解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートIX:実践例 300K
 

高速アクティブ・プローブのプロービングの実践例ついて解説します。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートX:実践例 300K
 

回路プロービングにおいては、最適な測定値を得る機会を増やすために使 用できるいくつかの実践例があります。前回の記事で検討し始めた実践例 ですが、ここではさらに実践例の検討を続けます。


【ブログ記事】プロービング手法とトレードオフ パートXI:理想的ではない状況 300K
 

オシロスコープを用いて伝送路の性能を評価しようとする時、理想的な点でプロービングできる幸運に恵まれないことがしばしばあります。プロービング点を仮想的にレシーバの直近に移動することが出来るソフトウェアツールについて解説します。


レーダー計測の基礎
レーダーパルスの復調と計測
300K
 

レーダー信号は振幅、周波数、位相変調を含む様々な種類の変調を使用します。レクロイのDemodulate演算を使えば簡単にレーダー信号の復調を行い主要なパルスパラメータを計測することができます。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: 帯域 300K
 

デジタル・オシロスコープの基本仕様の中で最も重要なものに帯域が上げられます。帯域と仕様に対する影響について少し知っておくと、あなたのアプリケーションに最適なオシロスコープを選定する時に役立ちます。この文書では、オシロスコープの帯域について様々な方向から見てみたいと思います。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: トリガ 300K
 

誰しもオシロスコープで捕捉した波形が画面上に安定して同じ位置に表示されないという経験をすることがあるでしょう。不安定な表示はトリガの設定が適切ではないからかもしれません。では、ちょっとトリガとは何なのか、なぜオシロスコープでトリガが重要なのかをみてみましょう。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎:バナースペックの概要 200K
 

「バナースペック」は、オシロスコープ・メーカーがよく使う言葉です。もしも、オシロスコープ・メーカーの営業に会ったことがあれば、この言葉を聞いたことがあると思います。しかし、それはどういう意味でどんな影響があるのでしょうか?


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: サンプリング・レート 200K
 

「オシロスコープのバーナー・スペック」で取り上げたサンプリング・レートは鍵となる仕様の一つです。サンプリング・レートがオシロスコープにどのような影響を与えるかを解説します。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: シーケンス・モード 200K
 

オシロスコープのユーザは多量の高速パルスを素早く連続的に捕捉したり、比較的長い周期の少ないイベントを捕捉したりしなければならないことがたまにあります。どちらの場合も、通常の捕捉モードでは困難です。この資料ではシーケンス・モードについて解説します。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎:ランダム・インタリーブ・サンプリング 200K
 

オシロスコープのいくつかの機能は特定の用途では素晴らしいものの、他の用途ではむしろじゃまになることがあります。この資料ではランダム・インタリーブ・サンプリング(RIS)が有効な用途と逆に使わないほうが良い場合を紹介します。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: FFTの設定 200K
 

最近の多くのデジタル・オシロスコープやミックスド・シグナル・オシロスコープは、時間軸波形を周波数軸スペクトラムに変換する高速フーリエ変換(FFT)に基づく周波数解析機能も持ち合わせています。この機能は使うと、様々な利点があります。波形にFFTをかける理由など紹介します。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: オシロスコープの操作 パートI(1/2) 300K
 

最近のオシロスコープの操作法としてフロントパネルについて解説します。


【ブログ記事】オシロスコープの基礎: オシロスコープの操作 パートII(2/2) 300K
 

最近のオシロスコープの操作法としてタッチスクリーンの操作について解説します。


計測パラメータを使いこなす ~バースト波形の時間計測例 1.7MB
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープの計測パラメータは波形中に複数の該当部分がある場合、複数の値を返してきます。ここでは1つのチャンネルのエッジと他のチャンネルのバースト波形との時間計測を行う場合を考え、3つの方法をご紹介します。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを用いた自動車用駆動モータの解析 800K
 

アナログ・トルク・ロードセルとアナログ・タコメータを使用して、ドライブ出力からモータ軸の機械出力までの効率の測定やモータ・ドライブの出力高調波および全高調波歪み(THD)も測定を紹介します。


【2017 AUTOMOTIVE EMC GUIDE 掲載記事 】 オシロスコープを用いた車載エレクトロニクス用 EMC 試験の検証 1MB
 

自動車に、より高い安全機能、通信機能、エンタテーメント機能を搭載する要求が、電子部品の集積度と有線/無線で繋が る信号線の数を飛躍的に増加させてきました。その結果、同じサイズの固定されたスペースの中に収める信号を絶え間な く拡張することとなりました。この記事ではオシロスコープを用いた車載エレクトロニクス用 EMC 試験の検証を紹介します。


EMCパルス・パラメータ計測例 
~電気的ファスト・トランジェント/バースト試験の波形チェック
200K
 

EMC試験室の試験前点検のひとつとしてIEC61000-4-4電気的ファスト・トランジェント/バースト試験における試験機器の波形確認が行われますが、この設定例をご紹介します。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを用いたバッテリ駆動ブラシレスDCモータ・ドライブの評価 200K
 

DCブラシレス・モータと付随するドライブ回路の評価と解析には、動的イベント中の波形を表示し、時間の経過とともに変化する計測値を可視化する機能が必要です。この資料では従来型のパワーアナライザとモータ・ドライブ・アナライザの解析機能の比較をします。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを用いたAC誘導モータ・ドライブの評価 1MB
 

AC誘導モータ・ドライブの徹底した特性評価と解析には、動的イベント中の波形を表示し、時間の経過とともに変化する計測値を可視化する機能が必要です。この資料では従来型のパワーアナライザとモータ・ドライブ・アナライザの解析機能の比較をします。


【ブログ記事】ジッタの基礎(ジッタ編 1/4) 300K
 

デジタル・データ、クロックとシリアル・データなどのアプリケーション を扱うに人は皆、いつかはジッタに関する問題に突き当たります。この資料ではジ ッタの計測と解析用として最近のデジタル・オシロスコープを用いて作られたいくつかのツールを見ていきます。


【ブログ記事】トータル・ジッタの構成成分(ジッタ編 2/4) 300K
 

トータル・ジッタを構成する様々な分類について解説します。


【ブログ記事】なぜジッタを計測しなければならないのか?(ジッタ編 3/4) 300K
 

なぜジッタを計測(TIEを用いて定量化)しなければならないかについて解説します。


【ブログ記事】シリアル・データ波形のタイム・インターバル・エラーの計測 (ジッタ編 4/4) 300K
 

広い意味でジッタがどのように計測されて定量 化されるかを見ていきます。


SPI出力の A/D 変換器の評価 1MB
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープの強力なシリア ル・デコード機能を用いたSPI出力の A/D 変換器の評価方法を解説します。


【ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートI(1/3) 300K
 

組み込みシステムのI2Cプロトコルのデバッグについて解説します。


【ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートⅡ(2/3) 300K
 

組み込みシステムの SPIプロトコルのデバッグについて解説します。


【ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートⅢ(3/3) 300K
 

組み込みシステムのUARTプロトコルのデバッグについて解説します。


【ブログ記事】パッシブ・プローブのグランド・リードの効果 300K
 

パッシブ・プローブのグランド・リードの効果について解説します。


【ブログ記事】バウンシング信号の観測 600K
 

情報の秘匿性を守る為などに広く用いられている周波数ホッピング・スペクトラム拡散通信のオシロスコープによる解析手法を解説します。


【ブログ記事】デジタル・データ品質を確認するコンスタレーション表示 300K
 

通信に用いる直交信号系の評価を行う一般的な手法としてコンスタレーション表示がありますが、オシロスコープを用いて表示する手法を解説します。


【ブログ記事】シリアル・データ入門:マンチェスター・データ・エンコーディング 300K
 

イーサネットの10BASEに用いられていることで知られるマンチェスター・エンコーディングについての技術的基礎を簡単に解説します。


【ブログ記事】RFバーストの包絡線の決定
(Demodulation編 1/2)
300K
 

電子戦用に用いられる信号に対してよく用いられる重要な計測をどのように 行うか、また頻繁に要望される計測の一つに、RFバーストの包絡線の決定があり、この課題をこなす4つの方法を解説します。


【ブログ記事】Demodulationを用いたレーダー信号の解析(Demodulation編 2/2) 300K
 

オシロスコープのdemodulation演算は、レーダー信号の解析には非常に便利です。この演算による計測例のいくつか紹介します。


【ブログ記事】トレンド関数で見る電源の安定度 300K
 

ほとんど全てのデバッグやトラブルシュートの際に、最初に行うのは一般的にデバイスや回路に何が入力されて、何が出力されるかのチェックです。ここでは電源において、電源ラインのモニタリングとトレンド関数について解説します。


【ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートⅠ(1/4) 300K
 

ヒストグラムの基本と、信号パラメータのランダムな変動の統計的表示の仕方を解説します。


【ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートⅡ(2/4) 300K
 

ヒストグラムを使ってどのように製品の仕様を決定するか解説します。


【ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートⅢ(3/4) 300K
 

信号を時間軸や周波数軸に加えて統計軸で見ることにより、どのように問題の根本原因を見つける手助けになるか解説します。


【ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートⅣ(4/4) 300K

ヒストグラムを使ったデバッグの一例として、パラメータ自動計測とヒストグラムおよび波形検索機能を組み合わせた 問題の解決の仕方を解説します。


無料で使える波形ビューワSI Studioでできること 300K
 

SI Studioは誰でも無料で使える波形ビューワです。SI Studioでどのようなことができるか解説します。さらに詳しい使い方はこちらの資料をご覧ください。
SI STUDIOを波形ビューアとして使用する(PDF)


【ブログ記事】コヒーレント信号の基礎
(光変調アナライザ編 1/3)
300K
 

コヒーレント信号の原理について、コヒーレント信号の要件、利用の目的と手法、オシロスコープ上での表示方法について解説します。


【ブログ記事】光変調アナライザとは?
(光変調アナライザ編 2/3)
300K
 

コヒーレント信号の基礎と光変調アナライザの基本について解説します。


【ブログ記事】光変調アナライザの性能の検証
(光変調アナライザ編 3/3)
300K
 

OMAの仕様、特にシステム帯域を取り上げ、OMAの性能指標が、計測システムにどれほど意味のある解析ができるか解説します。


Virtual Probeによる任意ポイントでのEyeパターン評価 300K
 

最近では組み込みボード内部のシリアル通信も高速化をしており、ますます信号品位に気を配った設計がもとめられています。しかしながら配線の微細化、高密度化によってアクセスポイントが限られ、特にボード内部で高速信号ラインが閉じている場合に伝送路を流れる信号を確認することは非常に難しくなっています。TeledyneLeCroyのVirtualProbeを使用することで限られたアクセスポイントにプロービングして得られた波形を元に、確認したいテストポイントでのEyeパターンをシミュレーションにより生成し評価することが出来ます。


【ブログ記事】プローブの校正法
パート Ⅰ(1/2)
300K
 

この資料ではプローブの校正法と負荷効果について解説します。


【ブログ記事】プローブの校正法
パート Ⅱ(2/2)
300K
 

この資料ではプローブの校正法を実例を交えて解説します。


【ブログ記事】プローブの基礎 パート I(1/4) 300K
 

この資料では多様なプローブがどのような目的で使われ、それらを用いることが計測結果にどのように影響するかを見ていきます。


【ブログ記事】プローブの基礎 パートⅡ(2/4) 300K
 

アプリケーション毎にどのようなプローブが有用かなど、さらにプローブの基礎について解説します。


【ブログ記事】プローブの基礎 パートⅢ(3/4) 300K
 

アクティブ・プローブを少し掘り下げます。また、どのような時にパッシブ・プローブの使用が適しており、どのような時にアクティブ・プローブの使用が適しているのかも解説します。


【ブログ記事】プローブの基礎 パート Ⅳ(4/4) 300K
 

この資料では差動プローブがどのような種類があるのかなどを解説します。


【ブログ記事】Sパラメータの基本に立ち戻ろう 300K
 

Sパラメータの基本について解説します。


【ブログ記事】シグナル・インテグリティの専門学校入校案内 300K
 

シグナル・インテグリティの分野においてエキスパートである Eric Bogatin博士がオンラインで開校しているビデオ教室「Signal Integrity Academy」の紹介


【ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの パートⅠ(1/3) 300K
 

S-パラメータは、インターコネクトを評価するのに良く知られた手法です。インターコネクトに正確な基準信号を入力し、どれだけの信号がコネクタを透過するか、どれ程の信号が反射するかを計測することで得られて、インターコネクトの性能について知りたい全てのことが分かります。この資料では一般的な計測シナリオの実例を示しながらSパラメータについて解説します。


【ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの 
パートⅡ(2/3)
300K
 

2ポートのSパラメータを挿入損失とリターン・ロスとの関係と合わせて見ていきます。また、S11とS21のいくつかの重要なパターンを取り上げ、DUTについて何を明らかにするかを解説します。


【ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの 
パートⅢ(3/3)
300K
 

S11とS21のいくつかの良く見られるパターンを取り上げ、それが何に起因するのか、そこからインターコネクトについて何が分かるのかを考えてみます。


【ブログ記事】ジッタの歴史 パートⅠ(1/5) 300K
 

ジッタは、長い間ずっと我々を悩ませてきたシグナル・インテグリティの訳の分からない問題の原因でした。ここでは、これまで何をして来たか、今何をしているのか、そしてこれからどのように取り扱っていけるのかという、過去、現在、未来に渡る「ジッタの物語」を始めましょう。


【ブログ記事】ジッタの歴史 パートⅡ(2/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。ジッタの取扱いに、より洗練された解析手法が必要とされた1990年代の後半の状況を見てみましょう。


【ブログ記事】ジッタの歴史 パートⅢ(3/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。レシーバで見られるジッタの関数としてBERを見ることについて解説します。


【ブログ記事】ジッタの歴史 パートⅣ(4/5) 300K
 

1990 年代の終わりから新世紀の始まりにかけて、ジッタ測定の展望が大幅に変わる転機が訪れます。この変化の歴史をこの記事で取扱います。


【ブログ記事】ジッタの歴史 パートⅤ(5/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。PLLベースのクロック・データ・リカバリの概念に起因するジッタ解析の進歩のいくつかを見てみましょう。


Impulse Response Time Limitingを使用したSPARQ Sパラメータ計測 300K
 

SPARQソフトウェアのバージョン6.5.0.2から、Sパラメータ計算プロセスの一部としてインパルス応答時間を制限するオプション(Limit Impulse Response)がユーザに公開されました。


CA10電流センサアダプタを使用する
~Danisense社電流計測センサの場合
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CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをDanisense社のフラックスゲート式電流センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
~ロゴスキー・コイルの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPEM-UK社製ロゴスキー・コイルの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
~Pearson社電流センサの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPearson社製電流計測センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
~電流トランスフォーマの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかを村田パワーソリューションズ製電流トランスフォーマの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、他の電流トランスフォーマに簡単に応用できます。


MDA810 モータ・ドライブ・アナライザのレゾルバ・インタフェースを使用する 300K
 

モータ軸速度、角度および絶対位置の計算の為にレゾルバ正弦/余弦信号と励起信号を使ってTeledyne LeCroyのMDA810をどの様に使用するのかを解説します。


【ブログ記事】
PAM4の基礎(PAM4編 1/3)
300K
 

様々な方面で高い評価を受けているPAM4変調方式ですが、この文書では、試験や解析で指摘されている課題を見る前に、PAM4の基礎を見ることにしましょう。


【ブログ記事】
アプリケーションに応じたPAM4テストセットアップ(PAM4編 2/3)
300K
 

PAM4が実際に利用されるアプリケーションを見、それぞれのアプリケーションに必要となる試験と計測のセットアップを検討します。


【ブログ記事】
PAM4信号試験の課題(PAM4編 3/3)
300K
 

PAM4信号の出現によって持ち上がった試験・計測の課題の簡単な概要を紹介します。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを使用した複雑なドライブ回路と制御の相互作用テスト 1.8MB
 

高速回転する正弦波変調永久磁石同期モータを使った小型電動工具をテストするのにテレダイン・レクロイのMDA810を使用した計測事例を紹介します。


【ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題 パートⅠ(1/3)
300K
 

モータ駆動システムの設計は非常に複雑な作業です。一般的に見られるモータ駆動装置は、可変周波数ドライブ(VFD)で、ACライン電圧をDCに変換し、そのDC電圧を変換してモータ端子に印加するパルス幅変調されたAC信号を発生する回路です。ここでは"一般的な"可変周波数ドライブ(VFD)を主要なサブシステムに分け、それらのサブシステムでの試験の要件を解説します。


【ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題
パートII(2/3)
300K
 

モータ・ドライブ・システムの最初の記事で、"一般的な"可変周波数ドライブ(VFD)を主要なサブシステムに分け(図1)、それらのサブシステムでの試験の要件のいくつかを議論しました。次に、アーキテクチャやトポロジの観点から現実世界の様々な形式のVFDのいくつかを見てみましょう。


【ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題
パートIII(3/3)
300K
 

可変周波数モータードライブ(VFD)には、多様なアーキテクチャとトポロジがあります。 また、おなじVFDであっても、パルス幅変調(PWM)技術の応用の仕方には様々なタイプがあります。キャリアベースPWM 、空間ベクトル(パルス幅)変調(SVMまたはSVPWM)について解説します。


【ブログ記事】
スイッチング電源の試験手法(1/3)
300K
 

一般的な機器では、壁のコンセントからの交流電力が、スイッチング電源を通して直流電力に整流されて供給されます。その後、直流電力(多くの場合、5 V)は、機器のPCボード上に配置されたDC-DCコンバータに供給され、様々な電圧に変換されて各電源ラインに分配供給されます。スイッチング電源の試験に関連した測定技術と留意点をいくつか見てみましょう。


【ブログ記事】
スイッチモード電源測定の誤差を低減(2/3)
300K
 

ほぼすべての携帯用電子機器、および据え置き型機器の多くは、スイッチングド電源が用いられています。ノートパソコンに電力を供給するAC電源アダプタには、コンセントに取り付ける小型のものからからより大きな四角いブロック形状のものまであります。スイッチング電源の計測で、差動測定手法がシングルエンド測定手法に勝る代表的な測定を取り上げます。それでは、電源装置測定の精度を保証するための手順を見てみましょう。


【ブログ記事】
スイッチング電源のデバイス解析(3/3)
300K
 

スイッチングAC-DC電源の試験に関して、これらの機器の評価に必要となる幅広い測定項目の概観から始まり、多くの場合差動プローブを用いる測定がパッシブ・プローブを用いる測定よりも優れていることを見てきました。また、電源測定における重要な エラーの原因について検討し、どのようにしてそれらを最小限に抑えるかも見てきました。では、デバイス解析の手法、特にスイッチング電源におけるスイッチング・トランジスタの解析に目を向けてみましょう。


 
三相パワー計測機器の比較 1MB
 

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザ(MDA)は8つの12bit入力チャンネルにより、パワーアナライザに匹敵する三相パワー計測を提供します。 このドキュメントではどうやって横河メータ&インスツルメンツ製パワーアナライザ機器とMDAを正確に比較したか簡潔にまとめます。そして2つの機器の結果の違いについて説明します。


SPARQ測定例
~Peelingによるコネクタ部反射ポイントの影響の削除
1MB
 

伝送線路評価の際に測定器との接続部に介在するコネクタの影響は悩ましい問題です。 コネクタの規格自体は広帯域なものであっても、基板への接続点でインピーダンスの乱れなくスムーズに信号を通すことは非常に難しく、設計に時間を要します。ここでは、安価なディップタイプのSMAコネクタを使用した評価基板でコネクタ接続部が測定結果に大きく影響した結果からTeledyne LeCroyのPeeling アルゴリズムを使用したGating 機能を使用して伝送線路部分のみの特性を抽出してみます。


SDA III ~ジッタ計算手法の解説~ 1MB
 

SDAIII-CompleteLinQ ツールセットには、トータル・ジッタ、ランダム・ジッタ、デタミニスティック・ジッタ( (Tj, Rj, と Dj)および周期性ジッタ (Pj)と符号間干渉(ISI)とデューティ・サイクル・ディストーション(DCD)を含むデータ依存ジッタ(DDj)を計算します。ツール・セットには、Tj、Rj とDj を分離するためDual-Dirac モデルをベースとした三種類のアルゴリズムを実装しています。この資料では、それら三種類の手法の類似点と相違点を解説します。


パワーエレクトロニクス解析ソリューション 450K
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープと差動アンプで、SiC、GaNパワーデバイス計測で起こる問題点・課題を解決いたします。

  • デバイスの動的なON抵抗(飽和電圧)を計測
    できない
  • 従来のオシロスコープでは、スイッチング時に発生するオーバーシュートや、微小なノイズを正確に計測できない。
  • 6kV以上の高電圧に対応した差動プローブがない

不良解析作業の効率化を実現する DDR デバッグ・ツールキット 200K
 

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
高速な DDR メモリ搭載システムの設計 / 開発を強力にサポート

  • 強力なアイパターン解析
  • DDR のジッタ解析
  • DDR 専用パラメータ解析
  • 解析ビットの選択

デジタルからメカニカルまでサポート可能なモータ・ドライブ・アナライザ 200K
 

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
モータ・ドライブの研究 / 開発に求められる多角的な解析を 1 台で実現

  1. はじめに
  2. 優れた基本性能 ─ 12 ビット高分解能と 8 チャンネル入力
  3. 多様な用途に柔軟に対応する直感的な ユーザーインタフェース
  4. デバッグに役立つ過渡現象の動的解析機能
  5. 作業効率を低下させない視認性の高い表示技術
  6. デジタルからメカニカルまでトータル・サポート

パワエレの効率化を支援モータ・ドライブ・アナライザ 600K
 

モータ・ドライブ・アナライザは、従来ではできなかった過渡的な動作の動的解析を高い精度で行うだけでなく、高速なコントローラの信号解析まで幅広く深く計測/解析できます。こうした新機能と有効性を紹介します。


効率的なDDRデバッグの新手法 600K
 

さまざまなシナリオを想定したテレダイン・レクロイのDDR評価の新手法とその有効性を紹介します。


QPHY-DDR3 保存波形でのテスト 2MB
 

QPHY-DDR を使用してコンプ ライアンス・テストを行うとテストレポートが生成されます。このレポートには各テス ト項目毎の最悪値位置のズーム波形の画面キャプチャが添付されています。しかし、特 にFail の結果が出た場合など、もう少し波形を詳しく見てみたい場合があります。 この場合、実測波形を用いずに以前テストを行った保存波形を用いてテストし、該当テスト項目でQPHYを止めてズ ーム倍率を変えたりカーソルを使用して該当波形部分を詳 しくチェックすることが出来 ます。 ここではQPHY-DDR3 の場合 でご説明します。


Teledyne LeCroyオシロスコープ
リモート・プログラミングの準備
2MB
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープ(Windows搭載モデル)でリモート・プログラミングを初めて行う方の為にリモート接続の準備としてイーサネット接続の場合の接続の手順、コマンド確認方法、VBAマクロ・スクリプト例についてまとめます。


超音波診断/非破壊検査用ソリューション 600K
  オシロスコープは超音波診断/非破壊検査などの研究・開発でも活用されています。テレダイン・レクロイの高い分解能12ビット・オシロスコープを使用した測定例とメリットをご紹介します。

SI STUDIOを波形ビューアとして使用する 1.2MB
  SI STUDIO(SPARQ ソフトウ ェア)はPC 上で動作する波形 シミュレーション・ソフトウ ェアですが、オシロスコープ のソフトウェアをベースとし ており、波形ビューアとして も便利に使用できます。 PC 上のフリーソフトウェアであるWaveStudio でも保存した波形ファイルの読み込みは出来ますが制限があり、この資料ではSI STUDIOを波形ビューアとして使用する方法について解説します。

パワーデバイス関連計測・解析ソリューション 300K
  【パワーデバイス大全2015 収録資料】
  • 高効率インバータ回路測定の課題
  • 12ビット高分解能オシロスコープによる動作状態での導通損失測定
  • 差動アンプによる動作状態での導通損失測定 他

変調解析-PWM 300K
 

パルス幅変調(PWM)は電源回路や産業用制御システムで一般的に使われています。Teledyne LeCroy のオシロスコープにはPWM 信号に印加された変調信号を抽出するためのいくつものパラメータや演算が用意されており、PWMレギュレータやコントローラの直線性と正確なトラッキングを評価する事が可能です。


テレダイン・レクロイのSPM評価ソリューション 500K
 
  • ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
  • 単発捕捉でかつ高分解能のオシロスコープがない

SPM、AFM、振動センサ、光センサの測定で起こる問題点・課題を解決いたします。


高速パルスレーザー装置の波形観測ソリューション 500K
 
  • 波形観測を行う際、波形データの保存やその後PCでの処理など一連の作業が面倒
  • パルスレーザー装置からのパルス・エネルギーなどを正確に把握したい
  • 補足したパラメータの統計処理
  • 波形パラメータの時間変動を確認したい
  • 多数の波形を短時間に取得したい。

高速パルスレーザ装置の波形観測で起こる問題点・課題を解決いたします。


SPARQを使用したフィクスチャのSパラメータ抽出 1.5MB
 

SATAコネクタ等の非同軸タイプのDUTをオシロスコープで測定するにはコネクタの変換の為にフィクスチャを使用します。 このフィクスチャの伝送特性を抽出することは通常では困難です。peelingアルゴリズムを使用したTime Domain Gating機能を用いることで実際に使用するフィクスチャの測定値からフィクスチャのみのSパラメータを抽出することが可能になります。


動作中のスイッチング素子の特性測定でお困りではありませんか? 200K
 

● ON領域での損失を測定が難しい
● 広い電圧スイング波形を観測したい
● 数VのON領域を測定するのが難しい

スイッチング電源開発における素子の損失測定で起こる問題点・課題を解決いたします。


制御ループの解析
~電源回路におけるフィードバック・ループの応答測定~
200K
  全ての電源回路は出力電圧も しくは電流をモニタして要求 値に制御するためのフィード バック・ループを持ちます。 制御ループ解析を行うことで、 このフィードバック・ループ の詳細なチェックを行うこと が出来ます。

SOA(Safe Operating Area)の測定
~デバイスのストレス・リミットのモニターによる
信頼性の向上~
300K
  全てのスイッチングデバイス は最大電圧、電流および電力 がデバイスメーカーによって規定されており、それぞれの テクニカルノートに記載されています。電源回路の信頼性を高めるにはそれらの限界を超えないことが重要です。 Safe Operating Area(安全動作 領域)プロットは動作マージンを確認するのに役立ちます。  

テレダイン・レクロイのセンサ評価ソリューション 440K
 
  • ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
  • 高分解能センサーを測定するのにオシロスコープ
    の分解能が8ビットしかない!

加速度/AEセンサ、音響センサ、振動センサ、光センサなどのセンサ評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

 

高速化する車内通信の伝送路評価に
お困りではありませんか?
500K
 
  • 従来型VNAやTDR測定器 は重量・サイズの制約が大 きく現場での測定が困難!
  • ノイズの多い環境での測定で故障が心配。
  • RF測定器は難しそう。
  • 高周波シミュレータは敷居が 高い。

伝送路評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

 

EV搭載のパワー・デバイスの計測に新境地!
自動車に搭載されるパワー・デバイスの計測でお困りではありませんか?
500K
 
  • スタート時の過渡的な回路挙動を計測したいが、うまく測れない。
  • IGBTの飽和電圧:VCE(sat)を動的に測定したいが、適切な方法が見つからない。

自動車に搭載されるパワー・デバイスの計測で起こりうる問題点、課題、解決方法をご紹介します。

 

高効率インバータ回路の導通損失の測定 500K
 

より高効率なインバータの開 発が求められる中、これまで 以上にスイッチング・デバイ スの詳細な測定が必要となっ てきています。

  • 動的な VCE(sat) もしくは VDS(ON)測定の必要性
  • 導通時損失測定方法
  • 8bitオシロスコープの測定限界と 12bitオシロスコープによる測定   
  • 差動アンプ(DA1855A)による測定
  • Power Analysis Softwareオプションによる測定
 

高速シリアル・インターフェイス入門(1)
~なぜいま、高速シリアル・インターフェイスなのか~
300K
  【EDN Japan掲載記事】
今回から全5回にわたって、いま話題となっているUSB 3.0などの高速シリアル・インターフェイス技術の概要をオ シロスコープを使った計測という切り口から紹介していきま す。第1回となる今回は、高速シリアル・インターフェイス に共通している技術的な解説の入門編をお送りします。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(2)
~あらためて学ぶ、DDR2の高速化技術~
300K
  【EDN Japan掲載記事】
今回取り上げる規格はDDR2です。パソコンのメインメモリ として広く利用されているDDR2はシリアル・インターフェ イスではありませんが、信号の高速化のために共通した技術 が用いられています。本稿ではこうした高速化技術を中心に 解説をしたいと思います。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(3)
~計測面からのぞくSerial ATAの高速化技術~
350K
  【EDN Japan掲載記事】
今回は、純粋なシリアル・インターフェイスであるSerial ATA(SATA)を取り上げます。パソコン内部のハードデ ィスクの配線を簡素化/高速化するために、ATAをシリアル に置き換えることが目的だったSATAは、その用途が拡張し ています。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(4)
~PCI Expressの概要と高速化を支える技術~
500K
  【EDN Japan掲載記事】
第4回となる今回は、PCI Expressを取り上げます。PCI Expressは、コンピュータ・マザーボードの拡張バスであり、 それ以前のパラレルバスであるPCI(PeripheralComponent Interconnect)をシリアル化したものです。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(5)
~新規格USB3.0、計測面ではどう変わった?~
500K
  【EDN Japan掲載記事】
今回は、USB3.0の概要とその計測例をいくつか示します。 USB3.0は最新の規格なので、半導体技術だけではなく、 計測技術も含めて新たな手法を用いています。
 

Processing Web Editor 640k
  本書は、捕捉した波形の解析、複数の演算処理を行う場合に便利なグラフィカル・ツールProcessing Web Editorについて説明しています。  

パラメータ計測の Gate と Accept 450k
  本書は、測定パラメータの対象波形をゲート設定したり取得パラメータ値を範囲指定して解析する場合について解説しています。  

CustomDSOによる簡易メニュー作成 800k
  CustomDSOを使うと、ユーザインタフェースのカスタマイズができます。本書は、CustomDSOの簡単な使い方を説明しています。  

XStream Browser 370k
  XStream Browserを使うと、オシロスコープの制御コマンドを見ることができます。リモート制御をはじめる際に参考になる資料です。  

ケーブル・フィクスチャ・デエンベッドのための2nd-Tier キャリブレーション 1MB
  2nd-Tierキャリブレーションを使うと、校正面を共試体の直前にすることができます。 この資料ではケーブルテストの際に課題となるフィクスチャのデエンベッドへの適用例を示します。  

Visual Basic スクリプトの記述 400K
  Visual Basicrbスクリプトは、オシロスコープに組み込んで、オシロスコープの動作を自動化するプログラムとして使われます。Visual Basicスクリプトを実行すると、オシロスコープの動作を自動的に制御することができます。この資料は、オシロスコープ上で実行する簡単なリモート・コントロール・プログラムの記述方法を解説します。  

シグナル・インテグリティ・ネットワーク・アナライザを 使用したFEXT/NEXTクロストークの測定 400K
  LeCroy SPARQシグナル・インテグリティ・ネットワーク・アナライザは、ケーブルアセンブリ、バックプレーン、ボード間接続コネクタのクロストークの特性を素早く測定します。near-end-crosstalk(NEXT)およびfar-end-crosstalk(FEXT)ともに差動ポート設定でもシングル・エンド設定でも測定が可能です。  

デジタルオシロスコープを使用したセンサとアクチュエータの測定 500K
  センサとアクチュエータは防衛/航空宇宙から医療機器、ロボット、バイオテクノロジ、その他アプリケーションと非常に多岐に渡る電子製品において使用されています。この資料ではいくつかの特定のセンサを使用した信号の観測、 試験の例をとりあげますが、この方法はすべてのタイプのセンサとアクチュエータに適用可能です。  

ChannelSync 500K
  多チャンネルで超広帯域測定を行う場合に複数のオシロスコープを連結すると、同期が不十分でチャンネル間のジッタがおおきくなりがちです。より正確な同期を行い、高精度の多チャンネル計測を実現するレクロイのモジュラー型オシロスコープ・システムの新しいアーキテクチャChannelSync を解説します。  

S-パラメータの解説 630K
  本書はオシロスコープのユーザーにとって S-パラメータ理 解の助けとなります。 Sーパラメータの知識は、レクロイのEye Doctor II、シグナ ル・インテグリティ・ツールの操作に役立ちます。  

オシロスコープにおけるデジタル信号処理(DSP) 240K
  ・DSPの利用法
・オシロスコープにおけるDSPの実装
・デジタル・オシロスコープにおけるDSPの利用法
・信号忠実度の向上
 

PCIE プロトコル・アナライザの省電力機能ASPM の検出能力 176K
  ・プロトコルアナライザと ASPM
・試験方法
・データの記録と解析
 

PCI ExpressRアナライザの外部トリガ機能 220K
  ・外部トリガ接続の概要
・BNC を使った外部トリガ
・ブレークアウトボードを使った外部トリガ
 

LVDS, CML, 高速シリアル信号の評価ガイド No.1 730K
  ミックスド・シグナル・オシロスコープを活用したSERDES の評価<パラレルデータとシリアルデータの相関解析>
このアプリケーション・ノーとでは、ミックス ド・シグナル・オシロスコープの活用事例と して、SERDES の評価方法紹介するもので す。
 

LVDS, CML, 高速シリアル信号の評価ガイド No.2 1.2MB
  SSC(スペクトラム拡散クロック)の評価  

SDA II ジッタ計測法の解説 174K
  レクロイのSDA II 解析パッケージ はトータル・ジッタやジッタをブ レークダウンさせるために2つの 方式を採用しています。このドキ ュメントでは数学的な話を除いて、 それらの方式について解説します。  

LXIインターフェース 530K
  GPIBインタフェースに代わる新たなインターフェースであるLXIを搭載した オシロスコープの機能及び接続方法を紹介。  

IsoBER 400K
  ・IsoBER の等高線図の重要性
・IsoBER はクロストークを特定します
 

Cable De-Embedding 180K
  ケーブルによる測定誤差を取り除きます。  

X-Stream II 55.3K
  この LABでは X-Stream IIテクノロジがどのようにスピードや応答性を向上させているのかを説明しています。  

TriggerScan 140K
  不良現象検知のための伝統的な観測方法
トリガ・システム
TriggerScan
 

エレクトロニクス アップデイト 【2006年10月号】 470K
  ジッタ解析Dj/Rj分離解析の限界
レクロイが提案する新たなジッタ解析の手法
・Dual-Diracモデル
・DDjの性質
・DDjの計測
・DDj計測の問題点
 

エレクトロニクス アップデイト 【2006年1月号】 470k
  回路シミュレーションのリアルタイム検証
オシロスコープにPSpiceを組込み実信号でシミュレーションを行う新手法
・SLPSの概要
・PSpiceモデルのオシロスコープへの組込み
・利点と応用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年12月号】 600K
  オシロスコープでイミュニティ試験を迅速かつ高度に解析するWaveRunner6000用EMCパルス・パラメータ・パッケージ
・ロングメモリの必要性
・計測対象パルスの選択
・統計解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年11月号】 400k
  シンボリック・デコードにより新たなCAN統合解析を実現するレクロイ社のVBAビークル・バス・アナライザ
・DBCファイルを使ったシンボリック解析
・複数ラインの同時解析機能
・CANトリガのシンボリック設定
・CAN信号の解析
 

LeCroy 社デジタル・オシロスコープと回路シミュレータPSpiceA/D の連携例 420K
  ・回路シミュレータOrCAD PSpiceA/D 概要
・オシロスコープとPSpiceA/D の連携設定
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-2】 85K
  レクロイ、UWB(Ultra Wideband)無線通信を解析する
プロトコル・アナライザ・システム「UWBTracer」を発表
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-1】 900K
  VisualBASIC.NETを使ったCustomDSOのPlug-in作成法
SerialATAプロトコル解析ソリューション
・.NETでの変更点
・プログラムの技法
・SATAプロトコルのデコード
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-2】 300K
  PCI Express Gen2対応コンプライアンス・テスト・ソリューション「SDA-PCIE-G2」
・SDA-PCIE-G2の概要
・Gen1のVer1.1仕様 
・X-Replay
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-1】 650K
  レクロイのSDAの新機能マルチ・アイパターン
複数のマスクで複雑な信号を評価
・SDA(Serial Data Analyzer)に新機能(マルチ・アイパターン機能)を搭載
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年08月号】 700k
  高速シリアル・インタフェースのレシーバー解析に新提案
イコライザ・シミュレーションをオシロに組込んだシリアル・データ解析
・イコライザの効果
・シミュレーションの活用
・オシロスコープの機能との融合
・サンプリング・オシロスコープでの応用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年07月号】 400K
  サンプリング・オシロスコープで10MS/sを実現した画期的タイムベースCIS(Coherent Interleaved Sampling)の解説
・シーケンシャル・サンプリング
・コヒーレント・サンプリング
・10MS/sの高速サンプリング
・パターン・ロック
・低ジッタ
 

Jump the Power Curve
高速・広帯域・ロングメモリを実現した2つの革新的テクノロジ
2MB
   

エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-2】 600KB
  シリアル・データ解析と周波数特性バンド幅だけでは分からない測定品質
・測定帯域
・フラットネス
・グループ・ディレイ
・DSP
・測定帯域とジッタ測定性能
・SDA11000
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-1】 450KB
  オシロスコープの性能を飛躍的に高めるDBI(Digital Bandwidth Interleave)技術次期シリアル・インタフェースの転送速度に対応
・SiGe技術
・DBIテクノロジ
・信号品質とジッタ特性
・アップグレード・パス
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-2】 160k
  6Gbps以上のシリアル・データ信号の測定用に最適な
11GHz帯域シリアル・データ・アナライザ「SDA-11000」
・開発背景
・製品概要
・主な特長
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-1】 400k
  世界最高帯域100GHzと超高速サンプリングを実現した
サンプリング・オシロスコープ「WaveExpertシリーズ」
・モノリシック・サンプラ
・豊富なモジュール
・ロングメモリとパターン・ロック
・アイパターン解析
・タイムベース
・TDR計測
・ジッタ解析とSDA100G
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-2】 350K
  16ビット・コントローラのデバッグに最適な「MS-32」
4chオシロスコープに32ビット・デジタル・チャンネルを追加
・開発背景
・「MS-32」の概要
・「MS-32」のトリガ機能
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-1】 500K
  CAN信号のデータ値をプロットするなど
高度な解析機能を搭載した「CANbus TDM」
・CANbus TDMの概要
・CANbus TDMの新機能
・CANメッセージの値のプロット
・CANbus TDの機能強化
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年02月号】 60k
  レクロイとCATCの統合
シリアル・データ・マーケット戦略の強化
・CATC社の紹介
・プロトコル層解析ソフトウェア
・プロトコル層解析ハードウェア
・レクロイの戦略
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年01月号】 700k
  レクロイ、WindowsベースのオシロスコープにNI社のLabVIEWを組込み機能強化する手法
・XstreamDSOのカスタマイズ機能について
・LabVIEWの組込み
・LabVIEW組込みの応用例1(パラメータ演算)
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年12月号】 400k
  オシロスコープのデータ管理/レポート作成機能
レクロイの新製品「LabNotebook」
・保存データベース
・波形表示画面へのコメントの挿入
・レポートの作成
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年11月号】 900K
  高速差動信号を忠実にピックアップするプローブ・ソリューション
レクロイの広帯域差動プローブ「D600ST」
・フレキ基板を利用した3種類のリード
・用途に応じた自由な組み合わせ
・負荷効果と信号品質
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年10月号】 420k
  6種類のRj / Dj の分離法
目的に合わせて選ぶアルゴリズム
・3つの目的
・3つのアルゴリズム
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年9月号】 720K
  簡便な操作で高精度のジッタ測定
広範なアルゴリズムに対応したジッタ・ウィザード
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年8月号】 530k
  サイン補間の数学的考察
デジタル・オシロスコープの補間手法の技術的背景
・サンプリングの数学的意味
・サイン補間
・サイン補間の限界
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年7月号】 300k
  高精度のタイミング測定を保証する
レクロイ社の高機能プローブ校正ジグTF-DSQ
・多様なプローブに対応
・デスキュー
・DC ゲインの校正
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年6月号】 600K
  CAN信号の物理層/プロトコル層の相関解析
レクロイ社のCANbus TDトリガ/デコーダ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年5月号】 1.2MB
  PCI Expressコンプライアンス・ソリューション
レクロイの新ソフトウエア・パッケージ「PCIE」
・コンプライアンス試験
・コンプライアンス・パッケージPCIE
・PCI Express信号の高度な解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年4月号】 300K
  ロジックとアナログ混在信号の解析
WaveRunner6000とGoLogicの組み合わせ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年3月号】 300K
  Serial ATAのジッタ解析
N Cycle VS Nプロット
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年1月号】 400K
  青色レーザの信号評価
次世代光ディスクの普及を促進
・OE425/525
・光カップリング
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年12月号】 650K
  Simulinkによるシミュレーションをオシロスコープに組む
・WaveRunner6000シリーズについて
・Simulinkについて
・MATLABの組み込み
・MATLABからSimulinkモデルの利用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年11月号】 400K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
VisualBASICで完全カスタマイズできるオシロスコープWaveRunner6000シリーズ
・CustomDSOとオートメーション・コマンド
・VisualBASICによるPlug-inの作成
・Plug-inのインストール
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年10月号】 400K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
DSOによるソリューション<高速シリアル通信におけるジッタの基礎知識>
・ジッタの意味
・ジッタ計測パラメータの比較
・統計的な比較
・シリアル通信におけるジッタの考え方
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年9月号】 700k
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
IEEE1394aの信号評価における受信データの選択的品質評価
・WaveMasterシリーズのカスタマイズ機能
・IEEE1394aのアイパターン評価
・受信データの選択的信号評価
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年8月号】 600K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
Spiceによる伝送路シミュレーションを利用した、シリアル信号の評価
・SDAのシリアル・データ・解析
・Spiceシミュレーション
・DFP2
・Spiceシミュレーションとシリアル・データ解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-01】 500K
  シリアル・データにおけるプリエンファシスの解析
レクロイ独自のISIプロット機能の応用
・プリエンファシス
・アイパターンとISIプロット
・オーバーエンファシス
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-02】 2MB
  USB2.0コンプライアンス・テスト・パッケージ「USB2」
・製品概要
・主な機能
・対応機種
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-03】 500K
  第二世代スイッチング電源解析ソフト「PMA2」
・対応機種
・主な機能
・PMA2ソフトウエアの応用例
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-01】 500K
  マルチレベル信号の解析
SDA シリーズの柔軟なマスク作成機能
・マスクのカスタマイズ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-02】 400K
  モジュール式計測器を用いた信号解析手法
安価で短期間に自動計測システムの構築が可能
・PXIとは
・PXIモジュールの必要条件
・A/Dモジュールの選択
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年5月号】 430K
  SDAシリーズによるDjとRjの分離解析
高速シリアル・インタフェースにおける重要な課題
・トータル・ジッタ,br>・DjとRj成分
・トータル・ジッタの考え方・DjとRjの分離・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年4月号】 850K
  レクロイのジッタ測定精度
統計学を基礎とした評価法
・ジッタ測定値の精度
・信頼範囲としてのジッタ精度の仕様
・ジッタの分布 ・DjとRjの分離・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-01】 370K
  3Gbpsシリアル・データの解析 SDAシリーズ
・アイパターン測定
・ジッタ解析
・フィルタ
・シミュレーション
・マスク・テスト
・ISI解析
・ペア内スキュー
・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-02】 1.5MB
  7.5GHz帯域の新設計差動プローブ WaveLinkシリーズ
・減衰率とシステム帯域
・ツインチップとハンドフリー・プローブ・ホルダ
・入力容量とインピーダンス・プローブ・インタフェース
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年2月号】 776K
  高速信号の測定に最適なデジタル・オシロスコープ
3GHz帯域で1M Ω入力を標準装備したWavePro7000
・シミュレーションとオシロスコープ
・カスタマイズ機能
・プローブ・インタフェース
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年12月号】 1.3MB
  高性能デジタル・オシロスコープでフィルタの検証
MATLABを組む
・MATLABの組み込み
・MATLABによるフィルタの設計
・フィルタの検証
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年10月号】 649K
  高速シリアル・インタフェースを多角的に解析
シリアル・データ・アナライザSDAの紹介
・基本性能
・アイパターン測定
・ロングメモリ・データを元にしたアイパターン・
マスク・テスト
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年9月号】 917K
  ユーザの望むカスタマイズを実現する高性能デジタル・オシロスコープ
WaveMaster ・外部解析ソフトとの連携
・プログラムの作成
・PLLのシミュレーション
・演算結果の取扱い
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-01】 164K
  ギガビット・イーサネット・テスト・パッケージソフトの紹介
・開発の背景
・製品の概要
・主な応用分野
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-02】 173K
  小型、軽量、低価格のカラー・デジタル・オシロ Waverunner2
・開発の背景
・製品の概要
・主な仕様
 

米国EDN誌 【2003年2月6日号】(日本語要約版) 1.6MB
  【EDN誌掲載記事】
The scopes trial hands on project
Ultrawideband real time DSO's
・レクロイとテクトロニクスのオシロを比較実験
 

米国EDN誌 【2003年2月6日号】(英語版) 214K
  【EDN誌掲載記事】
The scopes trial
 

 

 

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【技術資料】高分解能オシロスコープの真実

【連載】パワーモータ・ドライブの基礎入門書

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