テクニカルノート

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2017.3.28

以下の資料を追加しました。

  • 【米国ブログ記事】オシロスコープの基礎:バナースペックの概要
  • MDA810モータ・ドライブ・アナライザを用いたAC誘導モータ・ドライブの評価
【米国ブログ記事】オシロスコープの基礎:バナースペックの概要 200K
 

「バナースペック」は、オシロスコープ・メーカーがよく使う言葉です。もしも、オシロスコープ・メーカーの営業に会ったことがあれば、この言葉を聞いたことがあると思います。しかし、それはどういう意味でどんな影響があるのでしょうか?


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを用いたAC誘導モータ・ドライブの評価 1MB
 

AC誘導モータ・ドライブの徹底した特性評価と解析には、動的イベント中の波形を表示し、時間の経過とともに変化する計測値を可視化する機能が必要です。従来型のパワーアナライザは静的な平均値計測機能のみであり、波形表示も非常に短い時間区間のみとなります。しかしながらテレダイン・レクロイのMDA810モータ・ドライブ・アナライザは、長時間捕捉に対してモータ・ドライブの性能と効率に関する包括的かつ静的・動的両方の解析を提供します。


【米国ブログ記事】オシロスコープの基礎: トリガ 300K
 

誰しもオシロスコープで捕捉した波形が画面上に安定して同じ位置に表示されないという経験をすることがあるでしょう。不安定な表示はトリガの設定が適切ではないからかもしれません。では、ちょっとトリガとは何なのか、なぜオシロスコープでトリガが重要なのかをみてみましょう。


【米国ブログ記事】オシロスコープの基礎: 帯域 300K
 

デジタル・オシロスコープの基本仕様の中で最も重要なものに帯域が上げられます。帯域と仕様に対する影響について少し知っておくと、あなたのアプリケーションに最適なオシロスコープを選定する時に役立ちます。この文書では、オシロスコープの帯域について様々な方向から見てみたいと思います。


【米国ブログ記事】ジッタの基礎(ジッタ編 1/4) 300K
 

デジタル・データ、クロックとシリアル・データなどのアプリケーション を扱うに人は皆、いつかはジッタに関する問題に突き当たります。この資料ではジ ッタの計測と解析用として最近のデジタル・オシロスコープを用いて作られたいくつかのツールを見ていきます。


【米国ブログ記事】トータル・ジッタの構成成分(ジッタ編 2/4) 300K
 

トータル・ジッタを構成する様々な分類について解説します。


【米国ブログ記事】なぜジッタを計測しなければならないのか?(ジッタ編 3/4) 300K
 

なぜジッタを計測(TIEを用いて定量化)しなければならないかについて解説します。


【米国ブログ記事】シリアル・データ波形のタイム・インターバル・エラーの計測 (ジッタ編 4/4) 300K
 

広い意味でジッタがどのように計測されて定量 化されるかを見ていきます。


SPI出力の A/D 変換器の評価 1MB
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープの強力なシリア ル・デコード機能を用いたSPI出力の A/D 変換器の評価方法を解説します。


【米国ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートI(1/3) 300K
 

組み込みシステムのI2Cプロトコルのデバッグについて解説します。


【米国ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートU(2/3) 300K
 

組み込みシステムの SPIプロトコルのデバッグについて解説します。


【米国ブログ記事】組み込みシステムのシリアル・バスのデバッグ パートV(3/3) 300K
 

組み込みシステムのUARTプロトコルのデバッグについて解説します。


【米国ブログ記事】パッシブ・プローブのグランド・リードの効果 300K
 

パッシブ・プローブのグランド・リードの効果について解説します。


【米国ブログ記事】バウンシング信号の観測 600K
 

情報の秘匿性を守る為などに広く用いられている周波数ホッピング・スペクトラム拡散通信のオシロスコープによる解析手法を解説します。


【米国ブログ記事】デジタル・データ品質を確認するコンスタレーション表示 300K
 

通信に用いる直交信号系の評価を行う一般的な手法としてコンスタレーション表示がありますが、オシロスコープを用いて表示する手法を解説します。


【米国ブログ記事】シリアル・データ入門:マンチェスター・データ・エンコーディング 300K
 

イーサネットの10BASEに用いられていることで知られるマンチェスター・エンコーディングについての技術的基礎を簡単に解説します。


【米国ブログ記事】RFバーストの包絡線の決定
(Demodulation編 1/2)
300K
 

電子戦用に用いられる信号に対してよく用いられる重要な計測をどのように 行うか、また頻繁に要望される計測の一つに、RFバーストの包絡線の決定があり、この課題をこなす4つの方法を解説します。


【米国ブログ記事】Demodulationを用いたレーダー信号の解析(Demodulation編 2/2) 300K
 

オシロスコープのdemodulation演算は、レーダー信号の解析には非常に便利です。この演算による計測例のいくつか紹介します。


【米国ブログ記事】トレンド関数で見る電源の安定度 300K
 

ほとんど全てのデバッグやトラブルシュートの際に、最初に行うのは一般的にデバイスや回路に何が入力されて、何が出力されるかのチェックです。ここでは電源において、電源ラインのモニタリングとトレンド関数について解説します。


【米国ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートT(1/4) 300K
 

ヒストグラムの基本と、信号パラメータのランダムな変動の統計的表示の仕方を解説します。


【米国ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートU(2/4) 300K
 

ヒストグラムを使ってどのように製品の仕様を決定するか解説します。


【米国ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートV(3/4) 300K
 

信号を時間軸や周波数軸に加えて統計軸で見ることにより、どのように問題の根本原因を見つける手助けになるか解説します。


【米国ブログ記事】ヒストグラムの利用 パートW(4/4) 300K

ヒストグラムを使ったデバッグの一例として、パラメータ自動計測とヒストグラムおよび波形検索機能を組み合わせた 問題の解決の仕方を解説します。


無料で使える波形ビューワSI Studioでできること 300K
 

SI Studioは誰でも無料で使える波形ビューワです。SI Studioでどのようなことができるか解説します。さらに詳しい使い方はこちらの資料をご覧ください。
SI STUDIOを波形ビューアとして使用する(PDF)


【米国ブログ記事】コヒーレント信号の基礎
(光変調アナライザ編 1/3)
300K
 

コヒーレント信号の原理について、コヒーレント信号の要件、利用の目的と手法、オシロスコープ上での表示方法について解説します。


【米国ブログ記事】光変調アナライザとは?
(光変調アナライザ編 2/3)
300K
 

コヒーレント信号の基礎と光変調アナライザの基本について解説します。


【米国ブログ記事】光変調アナライザの性能の検証
(光変調アナライザ編 3/3)
300K
 

OMAの仕様、特にシステム帯域を取り上げ、OMAの性能指標が、計測システムにどれほど意味のある解析ができるか解説します。


Virtual Probeによる任意ポイントでのEyeパターン評価 300K
 

最近では組み込みボード内部のシリアル通信も高速化をしており、ますます信号品位に気を配った設計がもとめられています。しかしながら配線の微細化、高密度化によってアクセスポイントが限られ、特にボード内部で高速信号ラインが閉じている場合に伝送路を流れる信号を確認することは非常に難しくなっています。TeledyneLeCroyのVirtualProbeを使用することで限られたアクセスポイントにプロービングして得られた波形を元に、確認したいテストポイントでのEyeパターンをシミュレーションにより生成し評価することが出来ます。


【米国ブログ記事】プローブの校正法
パート T(1/2)
300K
 

この資料ではプローブの校正法と負荷効果について解説します。


【米国ブログ記事】プローブの校正法
パート U(2/2)
300K
 

この資料ではプローブの校正法を実例を交えて解説します。


【米国ブログ記事】プローブの基礎 パート I(1/4) 300K
 

この資料では多様なプローブがどのような目的で使われ、それらを用いることが計測結果にどのように影響するかを見ていきます。


【米国ブログ記事】プローブの基礎 パートU(2/4) 300K
 

アプリケーション毎にどのようなプローブが有用かなど、さらにプローブの基礎について解説します。


【米国ブログ記事】プローブの基礎 パートV(3/4) 300K
 

アクティブ・プローブを少し掘り下げます。また、どのような時にパッシブ・プローブの使用が適しており、どのような時にアクティブ・プローブの使用が適しているのかも解説します。


【米国ブログ記事】プローブの基礎 パート W(4/4) 300K
 

この資料では差動プローブがどのような種類があるのかなどを解説します。


【米国ブログ記事】Sパラメータの基本に立ち戻ろう 300K
 

Sパラメータの基本について解説します。


【米国ブログ記事】シグナル・インテグリティの専門学校入校案内 300K
 

シグナル・インテグリティの分野においてエキスパートである Eric Bogatin博士がオンラインで開校しているビデオ教室「Signal Integrity Academy」の紹介


【米国ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの パートT(1/3) 300K
 

S-パラメータは、インターコネクトを評価するのに良く知られた手法です。インターコネクトに正確な基準信号を入力し、どれだけの信号がコネクタを透過するか、どれ程の信号が反射するかを計測することで得られて、インターコネクトの性能について知りたい全てのことが分かります。この資料では一般的な計測シナリオの実例を示しながらSパラメータについて解説します。


【米国ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの 
パートU(2/3)
300K
 

2ポートのSパラメータを挿入損失とリターン・ロスとの関係と合わせて見ていきます。また、S11とS21のいくつかの重要なパターンを取り上げ、DUTについて何を明らかにするかを解説します。


【米国ブログ記事】Sパラメータがインターコネクトについて明らかにするもの 
パートV(3/3)
300K
 

S11とS21のいくつかの良く見られるパターンを取り上げ、それが何に起因するのか、そこからインターコネクトについて何が分かるのかを考えてみます。


【米国ブログ記事】ジッタの歴史 パートT(1/5) 300K
 

ジッタは、長い間ずっと我々を悩ませてきたシグナル・インテグリティの訳の分からない問題の原因でした。ここでは、これまで何をして来たか、今何をしているのか、そしてこれからどのように取り扱っていけるのかという、過去、現在、未来に渡る「ジッタの物語」を始めましょう。


【米国ブログ記事】ジッタの歴史 パートU(2/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。ジッタの取扱いに、より洗練された解析手法が必要とされた1990年代の後半の状況を見てみましょう。


【米国ブログ記事】ジッタの歴史 パートV(3/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。レシーバで見られるジッタの関数としてBERを見ることについて解説します。


【米国ブログ記事】ジッタの歴史 パートW(4/5) 300K
 

1990 年代の終わりから新世紀の始まりにかけて、ジッタ測定の展望が大幅に変わる転機が訪れます。この変化の歴史をこの記事で取扱います。


【米国ブログ記事】ジッタの歴史 パートX(5/5) 300K
 

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。PLLベースのクロック・データ・リカバリの概念に起因するジッタ解析の進歩のいくつかを見てみましょう。


Impulse Response Time Limitingを使用したSPARQ Sパラメータ計測 300K
 

SPARQソフトウェアのバージョン6.5.0.2から、Sパラメータ計算プロセスの一部としてインパルス応答時間を制限するオプション(Limit Impulse Response)がユーザに公開されました。


CA10電流センサアダプタを使用する
〜Danisense社電流計測センサの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをDanisense社のフラックスゲート式電流センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
〜ロゴスキー・コイルの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPEM-UK社製ロゴスキー・コイルの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
〜Pearson社電流センサの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPearson社製電流計測センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。


CA10電流センサアダプタを使用する
〜電流トランスフォーマの場合
300K
 

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかを村田パワーソリューションズ製電流トランスフォーマの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、他の電流トランスフォーマに簡単に応用できます。


MDA810 モータ・ドライブ・アナライザのレゾルバ・インタフェースを使用する 300K
 

モータ軸速度、角度および絶対位置の計算の為にレゾルバ正弦/余弦信号と励起信号を使ってTeledyne LeCroyのMDA810をどの様に使用するのかを解説します。


【米国ブログ記事】
PAM4の基礎(PAM4編 1/3)
300K
 

様々な方面で高い評価を受けているPAM4変調方式ですが、この文書では、試験や解析で指摘されている課題を見る前に、PAM4の基礎を見ることにしましょう。


【米国ブログ記事】
アプリケーションに応じたPAM4テストセットアップ(PAM4編 2/3)
300K
 

PAM4が実際に利用されるアプリケーションを見、それぞれのアプリケーションに必要となる試験と計測のセットアップを検討します。


【米国ブログ記事】
PAM4信号試験の課題(PAM4編 3/3)
300K
 

PAM4信号の出現によって持ち上がった試験・計測の課題の簡単な概要を紹介します。


MDA810モータ・ドライブ・アナライザを使用した複雑なドライブ回路と制御の相互作用テスト 1.8MB
 

高速回転する正弦波変調永久磁石同期モータを使った小型電動工具をテストするのにテレダイン・レクロイのMDA810を使用した計測事例を紹介します。


【米国ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題 パートT(1/3)
300K
 

モータ駆動システムの設計は非常に複雑な作業です。一般的に見られるモータ駆動装置は、可変周波数ドライブ(VFD)で、ACライン電圧をDCに変換し、そのDC電圧を変換してモータ端子に印加するパルス幅変調されたAC信号を発生する回路です。ここでは"一般的な"可変周波数ドライブ(VFD)を主要なサブシステムに分け、それらのサブシステムでの試験の要件を解説します。


【米国ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題
パートII(2/3)
300K
 

モータ・ドライブ・システムの最初の記事で、"一般的な"可変周波数ドライブ(VFD)を主要なサブシステムに分け(図1)、それらのサブシステムでの試験の要件のいくつかを議論しました。次に、アーキテクチャやトポロジの観点から現実世界の様々な形式のVFDのいくつかを見てみましょう。


【米国ブログ記事】
モータ・ドライブ・システム試験の課題
パートIII(3/3)
300K
 

可変周波数モータードライブ(VFD)には、多様なアーキテクチャとトポロジがあります。 また、おなじVFDであっても、パルス幅変調(PWM)技術の応用の仕方には様々なタイプがあります。キャリアベースPWM 、空間ベクトル(パルス幅)変調(SVMまたはSVPWM)について解説します。


【米国ブログ記事】
スイッチング電源の試験手法(1/3)
300K
 

一般的な機器では、壁のコンセントからの交流電力が、スイッチング電源を通して直流電力に整流されて供給されます。その後、直流電力(多くの場合、5 V)は、機器のPCボード上に配置されたDC-DCコンバータに供給され、様々な電圧に変換されて各電源ラインに分配供給されます。スイッチング電源の試験に関連した測定技術と留意点をいくつか見てみましょう。


【米国ブログ記事】
スイッチモード電源測定の誤差を低減(2/3)
300K
 

ほぼすべての携帯用電子機器、および据え置き型機器の多くは、スイッチングド電源が用いられています。ノートパソコンに電力を供給するAC電源アダプタには、コンセントに取り付ける小型のものからからより大きな四角いブロック形状のものまであります。スイッチング電源の計測で、差動測定手法がシングルエンド測定手法に勝る代表的な測定を取り上げます。それでは、電源装置測定の精度を保証するための手順を見てみましょう。


【米国ブログ記事】
スイッチング電源のデバイス解析(3/3)
300K
 

スイッチングAC-DC電源の試験に関して、これらの機器の評価に必要となる幅広い測定項目の概観から始まり、多くの場合差動プローブを用いる測定がパッシブ・プローブを用いる測定よりも優れていることを見てきました。また、電源測定における重要な エラーの原因について検討し、どのようにしてそれらを最小限に抑えるかも見てきました。では、デバイス解析の手法、特にスイッチング電源におけるスイッチング・トランジスタの解析に目を向けてみましょう。


 
三相パワー計測機器の比較 1MB
 

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザ(MDA)は8つの12bit入力チャンネルにより、パワーアナライザに匹敵する三相パワー計測を提供します。 このドキュメントではどうやって横河メータ&インスツルメンツ製パワーアナライザ機器とMDAを正確に比較したか簡潔にまとめます。そして2つの機器の結果の違いについて説明します。


SPARQ測定例
〜Peelingによるコネクタ部反射ポイントの影響の削除
1MB
 

伝送線路評価の際に測定器との接続部に介在するコネクタの影響は悩ましい問題です。 コネクタの規格自体は広帯域なものであっても、基板への接続点でインピーダンスの乱れなくスムーズに信号を通すことは非常に難しく、設計に時間を要します。ここでは、安価なディップタイプのSMAコネクタを使用した評価基板でコネクタ接続部が測定結果に大きく影響した結果からTeledyne LeCroyのPeeling アルゴリズムを使用したGating 機能を使用して伝送線路部分のみの特性を抽出してみます。


SDA III 〜ジッタ計算手法の解説〜 1MB
 

SDAIII-CompleteLinQ ツールセットには、トータル・ジッタ、ランダム・ジッタ、デタミニスティック・ジッタ( (Tj, Rj, と Dj)および周期性ジッタ (Pj)と符号間干渉(ISI)とデューティ・サイクル・ディストーション(DCD)を含むデータ依存ジッタ(DDj)を計算します。ツール・セットには、Tj、Rj とDj を分離するためDual-Dirac モデルをベースとした三種類のアルゴリズムを実装しています。この資料では、それら三種類の手法の類似点と相違点を解説します。


パワーエレクトロニクス解析ソリューション 450K
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープと差動アンプで、SiC、GaNパワーデバイス計測で起こる問題点・課題を解決いたします。

  • デバイスの動的なON抵抗(飽和電圧)を計測
    できない
  • 従来のオシロスコープでは、スイッチング時に発生するオーバーシュートや、微小なノイズを正確に計測できない。
  • 6kV以上の高電圧に対応した差動プローブがない

不良解析作業の効率化を実現する DDR デバッグ・ツールキット 200K
 

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
高速な DDR メモリ搭載システムの設計 / 開発を強力にサポート

  • 強力なアイパターン解析
  • DDR のジッタ解析
  • DDR 専用パラメータ解析
  • 解析ビットの選択

デジタルからメカニカルまでサポート可能なモータ・ドライブ・アナライザ 200K
 

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
モータ・ドライブの研究 / 開発に求められる多角的な解析を 1 台で実現

  1. はじめに
  2. 優れた基本性能 ─ 12 ビット高分解能と 8 チャンネル入力
  3. 多様な用途に柔軟に対応する直感的な ユーザーインタフェース
  4. デバッグに役立つ過渡現象の動的解析機能
  5. 作業効率を低下させない視認性の高い表示技術
  6. デジタルからメカニカルまでトータル・サポート

パワエレの効率化を支援モータ・ドライブ・アナライザ 600K
 

モータ・ドライブ・アナライザは、従来ではできなかった過渡的な動作の動的解析を高い精度で行うだけでなく、高速なコントローラの信号解析まで幅広く深く計測/解析できます。こうした新機能と有効性を紹介します。


効率的なDDRデバッグの新手法 600K
 

さまざまなシナリオを想定したテレダイン・レクロイのDDR評価の新手法とその有効性を紹介します。


QPHY-DDR3 保存波形でのテスト 2MB
 

QPHY-DDR を使用してコンプ ライアンス・テストを行うとテストレポートが生成されます。このレポートには各テス ト項目毎の最悪値位置のズーム波形の画面キャプチャが添付されています。しかし、特 にFail の結果が出た場合など、もう少し波形を詳しく見てみたい場合があります。 この場合、実測波形を用いずに以前テストを行った保存波形を用いてテストし、該当テスト項目でQPHYを止めてズ ーム倍率を変えたりカーソルを使用して該当波形部分を詳 しくチェックすることが出来 ます。 ここではQPHY-DDR3 の場合 でご説明します。


Teledyne LeCroyオシロスコープ
リモート・プログラミングの準備
2MB
 

テレダイン・レクロイのオシロスコープ(Windows搭載モデル)でリモート・プログラミングを初めて行う方の為にリモート接続の準備としてイーサネット接続の場合の接続の手順、コマンド確認方法、VBAマクロ・スクリプト例についてまとめます。


超音波診断/非破壊検査用ソリューション 600K
  オシロスコープは超音波診断/非破壊検査などの研究・開発でも活用されています。テレダイン・レクロイの高い分解能12ビット・オシロスコープを使用した測定例とメリットをご紹介します。

SI STUDIOを波形ビューアとして使用する 1.2MB
  SI STUDIO(SPARQ ソフトウ ェア)はPC 上で動作する波形 シミュレーション・ソフトウ ェアですが、オシロスコープ のソフトウェアをベースとし ており、波形ビューアとして も便利に使用できます。 PC 上のフリーソフトウェアであるWaveStudio でも保存した波形ファイルの読み込みは出来ますが制限があり、この資料ではSI STUDIOを波形ビューアとして使用する方法について解説します。

パワーデバイス関連計測・解析ソリューション 300K
  【パワーデバイス大全2015 収録資料】
  • 高効率インバータ回路測定の課題
  • 12ビット高分解能オシロスコープによる動作状態での導通損失測定
  • 差動アンプによる動作状態での導通損失測定 他

変調解析−PWM 300K
 

パルス幅変調(PWM)は電源回路や産業用制御システムで一般的に使われています。Teledyne LeCroy のオシロスコープにはPWM 信号に印加された変調信号を抽出するためのいくつものパラメータや演算が用意されており、PWMレギュレータやコントローラの直線性と正確なトラッキングを評価する事が可能です。


テレダイン・レクロイのSPM評価ソリューション 500K
 
  • ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
  • 単発捕捉でかつ高分解能のオシロスコープがない

SPM、AFM、振動センサ、光センサの測定で起こる問題点・課題を解決いたします。


高速パルスレーザー装置の波形観測ソリューション 500K
 
  • 波形観測を行う際、波形データの保存やその後PCでの処理など一連の作業が面倒
  • パルスレーザー装置からのパルス・エネルギーなどを正確に把握したい
  • 補足したパラメータの統計処理
  • 波形パラメータの時間変動を確認したい
  • 多数の波形を短時間に取得したい。

高速パルスレーザ装置の波形観測で起こる問題点・課題を解決いたします。


SPARQを使用したフィクスチャのSパラメータ抽出 1.5MB
 

SATAコネクタ等の非同軸タイプのDUTをオシロスコープで測定するにはコネクタの変換の為にフィクスチャを使用します。 このフィクスチャの伝送特性を抽出することは通常では困難です。peelingアルゴリズムを使用したTime Domain Gating機能を用いることで実際に使用するフィクスチャの測定値からフィクスチャのみのSパラメータを抽出することが可能になります。


動作中のスイッチング素子の特性測定でお困りではありませんか? 200K
 

● ON領域での損失を測定が難しい
● 広い電圧スイング波形を観測したい
● 数VのON領域を測定するのが難しい

スイッチング電源開発における素子の損失測定で起こる問題点・課題を解決いたします。


制御ループの解析
〜電源回路におけるフィードバック・ループの応答測定〜
200K
  全ての電源回路は出力電圧も しくは電流をモニタして要求 値に制御するためのフィード バック・ループを持ちます。 制御ループ解析を行うことで、 このフィードバック・ループ の詳細なチェックを行うこと が出来ます。

SOA(Safe Operating Area)の測定
〜デバイスのストレス・リミットのモニターによる
信頼性の向上〜
300K
  全てのスイッチングデバイス は最大電圧、電流および電力 がデバイスメーカーによって規定されており、それぞれの テクニカルノートに記載されています。電源回路の信頼性を高めるにはそれらの限界を超えないことが重要です。 Safe Operating Area(安全動作 領域)プロットは動作マージンを確認するのに役立ちます。  

テレダイン・レクロイのセンサ評価ソリューション 440K
 
  • ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
  • 高分解能センサーを測定するのにオシロスコープ
    の分解能が8ビットしかない!

加速度/AEセンサ、音響センサ、振動センサ、光センサなどのセンサ評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

 

高速化する車内通信の伝送路評価に
お困りではありませんか?
500K
 
  • 従来型VNAやTDR測定器 は重量・サイズの制約が大 きく現場での測定が困難!
  • ノイズの多い環境での測定で故障が心配。
  • RF測定器は難しそう。
  • 高周波シミュレータは敷居が 高い。

伝送路評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

 

EV搭載のパワー・デバイスの計測に新境地!
自動車に搭載されるパワー・デバイスの計測でお困りではありませんか?
500K
 
  • スタート時の過渡的な回路挙動を計測したいが、うまく測れない。
  • IGBTの飽和電圧:VCE(sat)を動的に測定したいが、適切な方法が見つからない。

自動車に搭載されるパワー・デバイスの計測で起こりうる問題点、課題、解決方法をご紹介します。

 

高効率インバータ回路の導通損失の測定 500K
 

より高効率なインバータの開 発が求められる中、これまで 以上にスイッチング・デバイ スの詳細な測定が必要となっ てきています。

  • 動的な VCE(sat) もしくは VDS(ON)測定の必要性
  • 導通時損失測定方法
  • 8bitオシロスコープの測定限界と 12bitオシロスコープによる測定   
  • 差動アンプ(DA1855A)による測定
  • Power Analysis Softwareオプションによる測定
 

高速シリアル・インターフェイス入門(1)
〜なぜいま、高速シリアル・インターフェイスなのか〜
300K
  【EDN Japan掲載記事】
今回から全5回にわたって、いま話題となっているUSB 3.0などの高速シリアル・インターフェイス技術の概要をオ シロスコープを使った計測という切り口から紹介していきま す。第1回となる今回は、高速シリアル・インターフェイス に共通している技術的な解説の入門編をお送りします。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(2)
〜あらためて学ぶ、DDR2の高速化技術〜
300K
  【EDN Japan掲載記事】
今回取り上げる規格はDDR2です。パソコンのメインメモリ として広く利用されているDDR2はシリアル・インターフェ イスではありませんが、信号の高速化のために共通した技術 が用いられています。本稿ではこうした高速化技術を中心に 解説をしたいと思います。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(3)
〜計測面からのぞくSerial ATAの高速化技術〜
350K
  【EDN Japan掲載記事】
今回は、純粋なシリアル・インターフェイスであるSerial ATA(SATA)を取り上げます。パソコン内部のハードデ ィスクの配線を簡素化/高速化するために、ATAをシリアル に置き換えることが目的だったSATAは、その用途が拡張し ています。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(4)
〜PCI Expressの概要と高速化を支える技術〜
500K
  【EDN Japan掲載記事】
第4回となる今回は、PCI Expressを取り上げます。PCI Expressは、コンピュータ・マザーボードの拡張バスであり、 それ以前のパラレルバスであるPCI(PeripheralComponent Interconnect)をシリアル化したものです。
 

高速シリアル・インターフェイス入門(5)
〜新規格USB3.0、計測面ではどう変わった?〜
500K
  【EDN Japan掲載記事】
今回は、USB3.0の概要とその計測例をいくつか示します。 USB3.0は最新の規格なので、半導体技術だけではなく、 計測技術も含めて新たな手法を用いています。
 

Processing Web Editor 640k
  本書は、捕捉した波形の解析、複数の演算処理を行う場合に便利なグラフィカル・ツールProcessing Web Editorについて説明しています。  

パラメータ計測の Gate と Accept 450k
  本書は、測定パラメータの対象波形をゲート設定したり取得パラメータ値を範囲指定して解析する場合について解説しています。  

CustomDSOによる簡易メニュー作成 800k
  CustomDSOを使うと、ユーザインタフェースのカスタマイズができます。本書は、CustomDSOの簡単な使い方を説明しています。  

XStream Browser 370k
  XStream Browserを使うと、オシロスコープの制御コマンドを見ることができます。リモート制御をはじめる際に参考になる資料です。  

ケーブル・フィクスチャ・デエンベッドのための2nd-Tier キャリブレーション 1MB
  2nd-Tierキャリブレーションを使うと、校正面を共試体の直前にすることができます。 この資料ではケーブルテストの際に課題となるフィクスチャのデエンベッドへの適用例を示します。  

Visual Basic スクリプトの記述 400K
  Visual Basicrbスクリプトは、オシロスコープに組み込んで、オシロスコープの動作を自動化するプログラムとして使われます。Visual Basicスクリプトを実行すると、オシロスコープの動作を自動的に制御することができます。この資料は、オシロスコープ上で実行する簡単なリモート・コントロール・プログラムの記述方法を解説します。  

シグナル・インテグリティ・ネットワーク・アナライザを 使用したFEXT/NEXTクロストークの測定 400K
  LeCroy SPARQシグナル・インテグリティ・ネットワーク・アナライザは、ケーブルアセンブリ、バックプレーン、ボード間接続コネクタのクロストークの特性を素早く測定します。near-end-crosstalk(NEXT)およびfar-end-crosstalk(FEXT)ともに差動ポート設定でもシングル・エンド設定でも測定が可能です。  

デジタルオシロスコープを使用したセンサとアクチュエータの測定 500K
  センサとアクチュエータは防衛/航空宇宙から医療機器、ロボット、バイオテクノロジ、その他アプリケーションと非常に多岐に渡る電子製品において使用されています。この資料ではいくつかの特定のセンサを使用した信号の観測、 試験の例をとりあげますが、この方法はすべてのタイプのセンサとアクチュエータに適用可能です。  

ChannelSync 500K
  多チャンネルで超広帯域測定を行う場合に複数のオシロスコープを連結すると、同期が不十分でチャンネル間のジッタがおおきくなりがちです。より正確な同期を行い、高精度の多チャンネル計測を実現するレクロイのモジュラー型オシロスコープ・システムの新しいアーキテクチャChannelSync を解説します。  

S-パラメータの解説 630K
  本書はオシロスコープのユーザーにとって S-パラメータ理 解の助けとなります。 Sーパラメータの知識は、レクロイのEye Doctor II、シグナ ル・インテグリティ・ツールの操作に役立ちます。  

オシロスコープにおけるデジタル信号処理(DSP) 240K
  ・DSPの利用法
・オシロスコープにおけるDSPの実装
・デジタル・オシロスコープにおけるDSPの利用法
・信号忠実度の向上
 

PCIE プロトコル・アナライザの省電力機能ASPM の検出能力 176K
  ・プロトコルアナライザと ASPM
・試験方法
・データの記録と解析
 

PCI ExpressRアナライザの外部トリガ機能 220K
  ・外部トリガ接続の概要
・BNC を使った外部トリガ
・ブレークアウトボードを使った外部トリガ
 

LVDS, CML, 高速シリアル信号の評価ガイド No.1 730K
  ミックスド・シグナル・オシロスコープを活用したSERDES の評価<パラレルデータとシリアルデータの相関解析>
このアプリケーション・ノーとでは、ミックス ド・シグナル・オシロスコープの活用事例と して、SERDES の評価方法紹介するもので す。
 

LVDS, CML, 高速シリアル信号の評価ガイド No.2 1.2MB
  SSC(スペクトラム拡散クロック)の評価  

XStream リモート・コントロール: DCOM接続の設定 800K
  このアプリケーションノートはDCOMでの接続を 可能にするためにレクロイのWindowベースのオシ ロスコープとPCをどのように設定し、DCOMを使 って接続するのかを説明します。  

SDA II ジッタ計測法の解説 174K
  レクロイのSDA II 解析パッケージ はトータル・ジッタやジッタをブ レークダウンさせるために2つの 方式を採用しています。このドキ ュメントでは数学的な話を除いて、 それらの方式について解説します。  

LXIインターフェース 530K
  GPIBインタフェースに代わる新たなインターフェースであるLXIを搭載した オシロスコープの機能及び接続方法を紹介。  

IsoBER 400K
  ・IsoBER の等高線図の重要性
・IsoBER はクロストークを特定します
 

Cable De-Embedding 180K
  ケーブルによる測定誤差を取り除きます。  

X-Stream II 55.3K
  この LABでは X-Stream IIテクノロジがどのようにスピードや応答性を向上させているのかを説明しています。  

TriggerScan 140K
  不良現象検知のための伝統的な観測方法
トリガ・システム
TriggerScan
 

エレクトロニクス アップデイト 【2006年10月号】 470K
  ジッタ解析Dj/Rj分離解析の限界
レクロイが提案する新たなジッタ解析の手法
・Dual-Diracモデル
・DDjの性質
・DDjの計測
・DDj計測の問題点
 

エレクトロニクス アップデイト 【2006年1月号】 470k
  回路シミュレーションのリアルタイム検証
オシロスコープにPSpiceを組込み実信号でシミュレーションを行う新手法
・SLPSの概要
・PSpiceモデルのオシロスコープへの組込み
・利点と応用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年12月号】 600K
  オシロスコープでイミュニティ試験を迅速かつ高度に解析するWaveRunner6000用EMCパルス・パラメータ・パッケージ
・ロングメモリの必要性
・計測対象パルスの選択
・統計解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年11月号】 400k
  シンボリック・デコードにより新たなCAN統合解析を実現するレクロイ社のVBAビークル・バス・アナライザ
・DBCファイルを使ったシンボリック解析
・複数ラインの同時解析機能
・CANトリガのシンボリック設定
・CAN信号の解析
 

LeCroy 社デジタル・オシロスコープと回路シミュレータPSpiceA/D の連携例 420K
  ・回路シミュレータOrCAD PSpiceA/D 概要
・オシロスコープとPSpiceA/D の連携設定
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-2】 85K
  レクロイ、UWB(Ultra Wideband)無線通信を解析する
プロトコル・アナライザ・システム「UWBTracer」を発表
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-1】 900K
  VisualBASIC.NETを使ったCustomDSOのPlug-in作成法
SerialATAプロトコル解析ソリューション
・.NETでの変更点
・プログラムの技法
・SATAプロトコルのデコード
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-2】 300K
  PCI Express Gen2対応コンプライアンス・テスト・ソリューション「SDA-PCIE-G2」
・SDA-PCIE-G2の概要
・Gen1のVer1.1仕様 
・X-Replay
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-1】 650K
  レクロイのSDAの新機能マルチ・アイパターン
複数のマスクで複雑な信号を評価
・SDA(Serial Data Analyzer)に新機能(マルチ・アイパターン機能)を搭載
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年08月号】 700k
  高速シリアル・インタフェースのレシーバー解析に新提案
イコライザ・シミュレーションをオシロに組込んだシリアル・データ解析
・イコライザの効果
・シミュレーションの活用
・オシロスコープの機能との融合
・サンプリング・オシロスコープでの応用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年07月号】 400K
  サンプリング・オシロスコープで10MS/sを実現した画期的タイムベースCIS(Coherent Interleaved Sampling)の解説
・シーケンシャル・サンプリング
・コヒーレント・サンプリング
・10MS/sの高速サンプリング
・パターン・ロック
・低ジッタ
 

Jump the Power Curve
高速・広帯域・ロングメモリを実現した2つの革新的テクノロジ
2MB
   

エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-2】 600KB
  シリアル・データ解析と周波数特性バンド幅だけでは分からない測定品質
・測定帯域
・フラットネス
・グループ・ディレイ
・DSP
・測定帯域とジッタ測定性能
・SDA11000
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-1】 450KB
  オシロスコープの性能を飛躍的に高めるDBI(Digital Bandwidth Interleave)技術次期シリアル・インタフェースの転送速度に対応
・SiGe技術
・DBIテクノロジ
・信号品質とジッタ特性
・アップグレード・パス
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-2】 160k
  6Gbps以上のシリアル・データ信号の測定用に最適な
11GHz帯域シリアル・データ・アナライザ「SDA-11000」
・開発背景
・製品概要
・主な特長
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-1】 400k
  世界最高帯域100GHzと超高速サンプリングを実現した
サンプリング・オシロスコープ「WaveExpertシリーズ」
・モノリシック・サンプラ
・豊富なモジュール
・ロングメモリとパターン・ロック
・アイパターン解析
・タイムベース
・TDR計測
・ジッタ解析とSDA100G
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-2】 350K
  16ビット・コントローラのデバッグに最適な「MS-32」
4chオシロスコープに32ビット・デジタル・チャンネルを追加
・開発背景
・「MS-32」の概要
・「MS-32」のトリガ機能
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-1】 500K
  CAN信号のデータ値をプロットするなど
高度な解析機能を搭載した「CANbus TDM」
・CANbus TDMの概要
・CANbus TDMの新機能
・CANメッセージの値のプロット
・CANbus TDの機能強化
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年02月号】 60k
  レクロイとCATCの統合
シリアル・データ・マーケット戦略の強化
・CATC社の紹介
・プロトコル層解析ソフトウェア
・プロトコル層解析ハードウェア
・レクロイの戦略
 

エレクトロニクス アップデイト 【2005年01月号】 700k
  レクロイ、WindowsベースのオシロスコープにNI社のLabVIEWを組込み機能強化する手法
・XstreamDSOのカスタマイズ機能について
・LabVIEWの組込み
・LabVIEW組込みの応用例1(パラメータ演算)
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年12月号】 400k
  オシロスコープのデータ管理/レポート作成機能
レクロイの新製品「LabNotebook」
・保存データベース
・波形表示画面へのコメントの挿入
・レポートの作成
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年11月号】 900K
  高速差動信号を忠実にピックアップするプローブ・ソリューション
レクロイの広帯域差動プローブ「D600ST」
・フレキ基板を利用した3種類のリード
・用途に応じた自由な組み合わせ
・負荷効果と信号品質
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年10月号】 420k
  6種類のRj / Dj の分離法
目的に合わせて選ぶアルゴリズム
・3つの目的
・3つのアルゴリズム
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年9月号】 720K
  簡便な操作で高精度のジッタ測定
広範なアルゴリズムに対応したジッタ・ウィザード
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年8月号】 530k
  サイン補間の数学的考察
デジタル・オシロスコープの補間手法の技術的背景
・サンプリングの数学的意味
・サイン補間
・サイン補間の限界
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年7月号】 300k
  高精度のタイミング測定を保証する
レクロイ社の高機能プローブ校正ジグTF-DSQ
・多様なプローブに対応
・デスキュー
・DC ゲインの校正
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年6月号】 600K
  CAN信号の物理層/プロトコル層の相関解析
レクロイ社のCANbus TDトリガ/デコーダ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年5月号】 1.2MB
  PCI Expressコンプライアンス・ソリューション
レクロイの新ソフトウエア・パッケージ「PCIE」
・コンプライアンス試験
・コンプライアンス・パッケージPCIE
・PCI Express信号の高度な解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年4月号】 300K
  ロジックとアナログ混在信号の解析
WaveRunner6000とGoLogicの組み合わせ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年3月号】 300K
  Serial ATAのジッタ解析
N Cycle VS Nプロット
 

エレクトロニクス アップデイト 【2004年1月号】 400K
  青色レーザの信号評価
次世代光ディスクの普及を促進
・OE425/525
・光カップリング
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年12月号】 650K
  Simulinkによるシミュレーションをオシロスコープに組む
・WaveRunner6000シリーズについて
・Simulinkについて
・MATLABの組み込み
・MATLABからSimulinkモデルの利用
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年11月号】 400K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
VisualBASICで完全カスタマイズできるオシロスコープWaveRunner6000シリーズ
・CustomDSOとオートメーション・コマンド
・VisualBASICによるPlug-inの作成
・Plug-inのインストール
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年10月号】 400K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
DSOによるソリューション<高速シリアル通信におけるジッタの基礎知識>
・ジッタの意味
・ジッタ計測パラメータの比較
・統計的な比較
・シリアル通信におけるジッタの考え方
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年9月号】 700k
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
IEEE1394aの信号評価における受信データの選択的品質評価
・WaveMasterシリーズのカスタマイズ機能
・IEEE1394aのアイパターン評価
・受信データの選択的信号評価
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年8月号】 600K
  【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
Spiceによる伝送路シミュレーションを利用した、シリアル信号の評価
・SDAのシリアル・データ・解析
・Spiceシミュレーション
・DFP2
・Spiceシミュレーションとシリアル・データ解析
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-01】 500K
  シリアル・データにおけるプリエンファシスの解析
レクロイ独自のISIプロット機能の応用
・プリエンファシス
・アイパターンとISIプロット
・オーバーエンファシス
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-02】 2MB
  USB2.0コンプライアンス・テスト・パッケージ「USB2」
・製品概要
・主な機能
・対応機種
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-03】 500K
  第二世代スイッチング電源解析ソフト「PMA2」
・対応機種
・主な機能
・PMA2ソフトウエアの応用例
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-01】 500K
  マルチレベル信号の解析
SDA シリーズの柔軟なマスク作成機能
・マスクのカスタマイズ
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-02】 400K
  モジュール式計測器を用いた信号解析手法
安価で短期間に自動計測システムの構築が可能
・PXIとは
・PXIモジュールの必要条件
・A/Dモジュールの選択
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年5月号】 430K
  SDAシリーズによるDjとRjの分離解析
高速シリアル・インタフェースにおける重要な課題
・トータル・ジッタ,br>・DjとRj成分
・トータル・ジッタの考え方・DjとRjの分離・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年4月号】 850K
  レクロイのジッタ測定精度
統計学を基礎とした評価法
・ジッタ測定値の精度
・信頼範囲としてのジッタ精度の仕様
・ジッタの分布 ・DjとRjの分離・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-01】 370K
  3Gbpsシリアル・データの解析 SDAシリーズ
・アイパターン測定
・ジッタ解析
・フィルタ
・シミュレーション
・マスク・テスト
・ISI解析
・ペア内スキュー
・その他のDj成分
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-02】 1.5MB
  7.5GHz帯域の新設計差動プローブ WaveLinkシリーズ
・減衰率とシステム帯域
・ツインチップとハンドフリー・プローブ・ホルダ
・入力容量とインピーダンス・プローブ・インタフェース
 

エレクトロニクス アップデイト 【2003年2月号】 776K
  高速信号の測定に最適なデジタル・オシロスコープ
3GHz帯域で1M Ω入力を標準装備したWavePro7000
・シミュレーションとオシロスコープ
・カスタマイズ機能
・プローブ・インタフェース
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年12月号】 1.3MB
  高性能デジタル・オシロスコープでフィルタの検証
MATLABを組む
・MATLABの組み込み
・MATLABによるフィルタの設計
・フィルタの検証
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年10月号】 649K
  高速シリアル・インタフェースを多角的に解析
シリアル・データ・アナライザSDAの紹介
・基本性能
・アイパターン測定
・ロングメモリ・データを元にしたアイパターン・
マスク・テスト
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年9月号】 917K
  ユーザの望むカスタマイズを実現する高性能デジタル・オシロスコープ
WaveMaster ・外部解析ソフトとの連携
・プログラムの作成
・PLLのシミュレーション
・演算結果の取扱い
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-01】 164K
  ギガビット・イーサネット・テスト・パッケージソフトの紹介
・開発の背景
・製品の概要
・主な応用分野
 

エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-02】 173K
  小型、軽量、低価格のカラー・デジタル・オシロ Waverunner2
・開発の背景
・製品の概要
・主な仕様
 

米国EDN誌 【2003年2月6日号】(日本語要約版) 1.6MB
  【EDN誌掲載記事】
The scopes trial hands on project
Ultrawideband real time DSO's
・レクロイとテクトロニクスのオシロを比較実験
 

米国EDN誌 【2003年2月6日号】(英語版) 214K
  【EDN誌掲載記事】
The scopes trial
 


 

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