シグナル・インテグリティ解析
シミュレーション・ソフトウエア(SPARQシリーズ用)
SPARQ-SISTUDIO

SPARQ-SISTUDIOをご使用になることでインピーダンス・ミスマッチやロス、エンファシス、イコライゼーションの選択が測定対象物の信号品位にどのような影響を与えるかを解析できます。インポートされたTouchstone形式の実測Sパラメータファイルを使用して伝送路のエミュレートもしくは デエンベデッドを行うことができます。

エンファシスやイコライゼーションモデルとシミュレーションされる波形はユーザによる設定が可能で、生成されたEYEダイアグラムを表示・解析し、測定対象物と受信端でのEYE開口、ジッタ特性について詳細に調べることが可能です。

このバージョンのSI StudioはSPARQシリーズ(シグナル・インテグリティ・ネットワーク・アナライザ)の上にインストールされ、オプションを付加したSPARQに接続した全てのユーザでご利用になれます。SPARQ-SISTUDIOをご購入いただくと、USBライセンス・キーも添付されます。これによりSPARQが未接続であってもシグナル・インテグリティ・スタジオの機能を全てご利用になれます。

スタンドアローン版のSISTUDIOについては こちらを御覧ください

SPARQ-SISTUDIOの詳細

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主な機能と特長
  • SPARQのSパラメータの測定とシームレスに統合
  • イコライズされた受信端信号のフル・シグナル・インテグリティ解析
  • 高速アイ・パターン描画
  • 先進のジッタ解析
  • 実測またはシミュレーション・モデルによる伝送特性の協調シミュレーション
  • 伝送路とフィクスチャ特性のデエンベッドとエミュレーション
  • CTLE、DFEおよびFFEイコライザとPLLのエミュレーション
  • USBライセンスキーを使用するか、オプションキーコードをSPARQにインストールすれば、スタンドアロンのソフトウェアとして使用可能

End-toEndのシグナル・インテグリティ・ワークステーション

SISTUDIOをご使用になることでインピーダンス・ミスマッチやロス、エンファシス、イコライゼーションの選択が測定対象物の信号品位にどのような影響を与えるか解析出来ます。接続されたSPARQからの実測SパラメータもしくはTouchstone1.0形式のSパラメータファイルを使用して伝送路のエミュレートもしくは デエンベデッドを行うことができます。生成された受信機端での波形を表示し、EYEダイアグラムにスライスし、解析することで測定対象物と受信端でのEYE開口、ジッタ特性について詳細に調べることが可能です。

実測Sパラメータの影響を即座に考察

SISTUDIOはSPARQシリーズ シグナルインテグリティ・ネットワーク・アナライザと連携しシームレスに動作します。直接接続されたSPARQによりその場で測定された実測Sパラメータを使って伝送路やフィクスチャのエミュレーション、 デエンベデッド設定が可能です。SPARQが新しいSパラメータを取得すると、アプリケーションは即座に新しい測定結果の影響を表示します。SPARQは40GHzのSパラメータを1ボタン操作で取得し、価格はVNAの数分の1。2、4、8、および12ポート版がリリースされています。

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劣化したシリアル・データパターンのシミュレート

SISTUDIOの解析は内蔵シミュレータによる長いシリアル・データパターンの出力から始まります。シリアル・データ波形のタイプはNRZ、RZ、bpNZおよびクロックです。垂直軸ノイズ、時間軸ジッタ、オーバーシュート/アンダーシュート、周期ジッタの混入、ISI等による劣化が設定できます。事前にレクロイ製オシロスコープで保存された波形データを信号源として使用出来ます。

最適なイコライザ設定の決定

ユーザはプリエンファシス、デエンファシス、CTLE(Continuous Time Linear Equalization)、FFE(Feed Forward Equalization)、DFE( Decision Feedback Equalization)フィルタ、さらに標準またはカスタムのPLL設定をシンプルなGUIで設定し、閉じたEYEを開くことが可能です。ユーザは手動で設定することも、ソフトウエアにより自動で設定することも可能です。

迅速なEYEダイアグラムの生成

イコライズされた信号は、1UIに迅速にスライスされ、解析可能なEYEダイアグラムが生成されます。ユーザは最大で11のEYEダイアグラム測定を表示でき、マスク試験を実施し、伝送路やイコライザ設定の結果、規格に適合したEYEになるかを判断できます。

時間軸および周波数軸でのジッタ解析

SISTUDIOは15以上のジッタ関連の表示を持ち、ジッタ混入の影響と、伝送路とイコライザの設計により信号品位の問題がどのような結果となるかを詳細に考察することが出来ます。ジッタ解析は標準的なTj、Rj、およびデュアル・ディラック法によるDjとジッタ・スペクトル、ジッタ・ヒストグラム他を含みます。

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Simulator
Signal Type Serial Data: NRZ, RZ, bpNZ and clock
Signal Characteristics Frequency, Amplitude, Risetime, Overshoot, Undershoot, Spike, Vertical Noise, Horizontal jitter, Periodic Jitter, ISI
Emphasis Pre-emphasis or De-emphasis, Auto-add, Auto-remove, Custom setting of up to 8 taps
De-embedding / Emulation Emulate or De-embed channel using Touchstone 1.0 S-parameter file measured on connected LeCroy SPARQ or imported from SPARQ or VNA
Equalizer
CTLE:  Auto-set boost, or custom settings for DC gain, zero frequency, pole 1 frequency, pole 2 frequency
FFE:  Auto-find levels and tap values for user-selectable taps/precursor taps, or manually set values
DFE:  Auto-find levels and tap values for user-selectable taps/precursor taps, or manually set values and erasure delta
PLL:  Select from predefined software PLLs, including FC Golden, PCIe, DVI, FB-DIMM, USB3.0 SS or custom set
Eye Measurements
Eye Height Eye Crossing Mask Hits Avg Power
Eye Width One Level Zero Level  
Eye Amplitude Mask outs BER    
Jitter Measurements
Scalar Waveforms  
Tj Jitter Spectrum Jitter CDF
Rj Jitter vs Time (JitterTrack) Bathtub Curve
Dj Dj Extraction Filtered Jitter
DDj Jitter Distribution ISOBER Analysis
DCD Qfit  
Pj    
ISI    
Additional See LeCroy SPARQ datasheet for additional software specifications

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オーダー・インフォメーション

モデル名  
SPARQ-SISTUDIO シグナル・インテグリティ解析シュミレーション・ソフトウェア(SPARQ用)

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