Digital Scopes

オシロスコープ シリアル解析

統合解析
シリアル・データ信号の4象限
全方位解析

マスクに対する不良ビットを検出するアイ・パターン解析

  • 最大800万の連続ビットを用いたアイ・パターン解析により、過渡的なジッタやノイズ・イベントも確実に捕捉

  • 連続ビットに対するアイ・パターン解析では、コンプライアンス・マスクで不良と判定されたビット毎の波形を測定可能(不良位置検出)

  • 高速の表示更新

  • 極めて低い測定ジッタ(1 ps rms未満)

ジッタ・トレンド

  • ヒストグラム解析では見落とす可能性のある過度的なジッタ・イベントを、ジッタの時間関数として表示

  • 定常的でないジッタの振る舞いを明示
     

ジッタ・バスタブ

  • TIEヒストグラムから外挿法で推定したバスタブ・カーブでは、ビット・エラー・レート(BER)テストセットによる測定とほとんど同等の解析結果を取得可能

  • ビット・エラー・レート(BER)の関数としてジッタを表示

  • システムの最大BER性能を予測  

24時間見積り受け付けます。

ヒストグラム

  • 測定されたジッタを表示するヒストグラムでは、バイ・モードや正規分布に従わないテールなどの異常なジッタ分布を明示

  • ジッタの成分(Rj,Dj)分離表示をするだけでは、見失う可能性のあるジッタの振る舞いを、ローデータ・ビューで確認可能

  • 表示された元データから、ジッタの成分分離解析(Rj,Dj)や、バスタブ・カーブの信頼性を確認することが可能

オシロスコープ シリアル解析


主な特長/仕様    アイパターン測定
SDAについて シリアル・トリガ
統合解析 その他の基本機能
ジッタ解析 ASDA-J
 

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LeCroy Resources
レクロイ・デジタル・オシロスコープ性能比較表 PDF File 10K
標準パラメータ解説書 PDF File 2.3MB
X-Streamオシロスコープご使用手引き(逆引きマニュアル)Ver.4.2.5 PDF File 1.7MB

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