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マスクに対する不良ビットを検出するアイ・パターン解析
最大800万の連続ビットを用いたアイ・パターン解析により、過渡的なジッタやノイズ・イベントも確実に捕捉
連続ビットに対するアイ・パターン解析では、コンプライアンス・マスクで不良と判定されたビット毎の波形を測定可能(不良位置検出)
高速の表示更新
ジッタ・トレンド
ヒストグラム解析では見落とす可能性のある過度的なジッタ・イベントを、ジッタの時間関数として表示
ジッタ・バスタブ
TIEヒストグラムから外挿法で推定したバスタブ・カーブでは、ビット・エラー・レート(BER)テストセットによる測定とほとんど同等の解析結果を取得可能
ビット・エラー・レート(BER)の関数としてジッタを表示
システムの最大BER性能を予測
ヒストグラム
測定されたジッタを表示するヒストグラムでは、バイ・モードや正規分布に従わないテールなどの異常なジッタ分布を明示
ジッタの成分(Rj,Dj)分離表示をするだけでは、見失う可能性のあるジッタの振る舞いを、ローデータ・ビューで確認可能
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