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極めてクリーンなアイパターンマスクに対する不良位置表示では、アイマスクを逸脱した個々のビットが表示されます。SDAは検査対象のデータ・ストリームの連続したUIを捕捉し、アイパターンを測定します。アイパターンを生成する際に、ソフトウェアはマスクを逸脱した波形領域に番号をつけるため、不良原因となった特定のビットが識別できるようになります。マスクを逸脱する原因となったビットの前後の信号波形が表示されるため、マスクの逸脱が隣接ビットに関係するものかどうかを簡単に把握することができます。
元のビット・シーケンスがアイパターンとともに保存されるため、マスクからの逸脱原因となったビットを1つ以上検出することができます。このような分析によってマスクからの逸脱原因が特定され、デバッグ・プロセスが効率化されます。このディスプレイでは、マスクからの逸脱発生箇所の前後に表示するビット数(上限は捕捉したビットの総数)を指定できるため、特定のビット・パターンを容易に検出することができます。マスクからの逸脱とビット位置の一覧表も用意されています。 規格への適合性SDAでは、USB 2.0からPCI Expressまでのあらゆる規格に準拠するために、コンプライアンス試験パッケージを増やしています。これらオプションのコンプライアンス試験パッケージの目的は、コンプライアンス試験機能や表示機能を追加して、SDAの基本解析機能とデバッグ機能を強化することです。ボタンを1回押すだけで、コンプライアンス試験の全プロセスを実行し、合否判定を含むすべてのテスト結果を表示することができます。レクロイは引き続き新しい測定機能や試験機能をSDAに追加し、現在および将来のシリアル・データ規格をサポートしていきます。 SDAのSDA-PCIEソフトウェア・オプションは、PCI-SIG(R)に準拠したアイパターン解析機能とジッタ測定機能を実装するもので、システムとアドインカードの両方を測定できます。
SDA-SATA検証/
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