Digital Scopes

 
アイパターンの詳細分析

アイパターン解析は、シリアル・データ・ストリームのシグナル・インテグリティを評価するために、幅広く使用されている手法です。SDAでは超ロングメモリを活用し、最大1,200万までの連続した UI からなる連続レコード上でアイパターンを測定します。最初に、ソフトウェアで定義するクロック・リカバリ・アルゴリズムに基づいて、長さが1 UIのセグメントに連続レコードを分割します。次に、これらのセグメントを重ね合わせてアイパターンを生成します。それ以降の捕捉データは、以前の捕捉データと平均計算されます。

  • 連続したUIを使用するため、任意の単一ビット上での過度的なイベントを捕捉可能
  • アイパターン測定は、PCI Express、Serial ATA(SATA)、USB 2.0、Serial attached SCSI(SAS)などの規格に準拠
  • ロングメモリ捕捉でトリガ・ジッタが無視できるため、アイパターン測定の従来の方式と比較して、測定時ジッタを7倍低減可能
  • シュートメモリのアイパターン測定では、トリガの度にタイミングがリセットされるので、ホールドオフ中に発生している時間シフトは測定できない。ロングメモリにより、最大1200万 UI をデッドタイムなしにUI間のタイミングを保持して測定できる。
  • 詳細な設定が可能なクロック・リカバリ・アルゴリズム(1次/2次PLLモデルなど)がサポートされているため、既存のすべての規格に準拠。さらに、特定タイプのレシーバーのモデリングも可能。
  • PCI Express、DVI/HDMI、"GOLDEN" PLLに準拠したクロック・リカバリ・モードをサポート
  • リファレンス・レシーバを使った電気信号と光信号の表示を高速更新

極めてクリーンなアイパターン

マスクに対する不良位置表示では、アイマスクを逸脱した個々のビットが表示されます。SDAは検査対象のデータ・ストリームの連続したUIを捕捉し、アイパターンを測定します。アイパターンを生成する際に、ソフトウェアはマスクを逸脱した波形領域に番号をつけるため、不良原因となった特定のビットが識別できるようになります。マスクを逸脱する原因となったビットの前後の信号波形が表示されるため、マスクの逸脱が隣接ビットに関係するものかどうかを簡単に把握することができます。

SDAの他のチャンネルで捕捉した波形についても、検査対象の信号と時間を合わせて表示できます。そのため、検査対象のシステムにおいて対象信号がマスクを逸脱する現象と他の信号との関係を分析することができます。

元のビット・シーケンスがアイパターンとともに保存されるため、マスクからの逸脱原因となったビットを1つ以上検出することができます。このような分析によってマスクからの逸脱原因が特定され、デバッグ・プロセスが効率化されます。このディスプレイでは、マスクからの逸脱発生箇所の前後に表示するビット数(上限は捕捉したビットの総数)を指定できるため、特定のビット・パターンを容易に検出することができます。マスクからの逸脱とビット位置の一覧表も用意されています。
 


規格への適合性

SDAでは、USB 2.0からPCI Expressまでのあらゆる規格に準拠するために、コンプライアンス試験パッケージを増やしています。これらオプションのコンプライアンス試験パッケージの目的は、コンプライアンス試験機能や表示機能を追加して、SDAの基本解析機能とデバッグ機能を強化することです。ボタンを1回押すだけで、コンプライアンス試験の全プロセスを実行し、合否判定を含むすべてのテスト結果を表示することができます。レクロイは引き続き新しい測定機能や試験機能をSDAに追加し、現在および将来のシリアル・データ規格をサポートしていきます。

SDAのSDA-PCIEソフトウェア・オプションは、PCI-SIG(R)に準拠したアイパターン解析機能とジッタ測定機能を実装するもので、システムとアドインカードの両方を測定できます。


SDA-SATA検証/
デバッグ・ツール

SDA用のSDA-SATAソフトウェア・パッケージには、電気的仕様SATA Gen1(1.5Gbps)およびSATA Gen2(3Gbps)に準拠した広範なデバッグ・ツールや試験/検証ツールが用意されています。SDA-SATAソリューションは、Internal(1i/2iモード)、Short Backplane and External Desktop Applications(1x/2xモード)、Extended System-to-System Applicationsなど、SATA(Serial ATA)試験モードをサポートしています。

SDA-SATAソリューションは、SATA Gen1規格の標準的なアイパターン試験のほかに、SATA Gen2規格の振幅測定とジッタ測定をフルサポートしています。これらの強力な機能をもつSDA-SATAは、市販されているテストツールのうち、Gen1およびGen2のSerial ATAトランスミッタ・コンプライアンス・テストの要件を満たす唯一の自動テスト・ソリューションとして認められています。
 

主な特長
  • PCI Express Gen1/Gen2をサポート
  • SATA Gen1/Gen2仕様を広範にサポート
  • テスト・レポートを自動作成
  • PHYレイヤに適した柔軟で強力なテストツール・セット
  • 振幅、タイミング、ジッタの測定
  • 統合されたオープンなユーザー・インタフェース
  • クロック・リカバリ・オプションにより、SATA Gen2ジッタ要件を完全サポート
  • SATA Gen1用のデータ間ジッタ測定モード
  • Sigtestソフトウェアへの計測サポート
 
 

 

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