- ワンボタン操作でRead/Write
─バーストの切り分けが可能
- 4つの異なる計測シナリオを同時解析
- 最大10個のEyeパターンを表示、マスクテストおよびEyeパラメータ
計測
- 根本原因解析のためのジッタ解析機能
- DDR特有の計測パラメータを簡単設定
- 設定変更可能なqualifireにより指定
した領域のみで解析
- DDR2/3/4/5およびLPDDR2/3を
サポート
- 標準仕様およびカスタム・スピード・
グレードが選択可能
Read/Write切り分け
簡易解析とシステム評価のためにReadとWriteバーストをワンボタン操作で簡単に切り分け可能です。マルチ計測シナリオ・アーキテクチャで計測パラメータ設定が柔軟かつ、ジッタおよびEyeパターン、DDR計測パラメータをReadおよびWriteバーストに対して同時に計算可能です。
Eyeパターン解析
DDRデバッグ・ツールキットを使用して、どのDQ、DQSあるいはアドレス信号も標準もしくはカスタムマスクに対してテストできます。MaskFailureIndicatorを有効にすれば自動的にマスク抵触を識別します。EyeheightやEyewidthおよびEyeopeningの様なEyeパラメータはシステム・パフォーマンスの定量的な理解を深めるのに不可欠です。同時表示されるEyeパラメータによって複数のテスト・シナリオのパフォーマンスの比較が容易です。
DDR固有のジッタ解析
バースト状のDDR信号を解析してジッタ源を容易に識別できます。これはほとんどのジッタ解析ツールでは不可能なユニークな機能です。ジッタをランダムジッタおよびデタミニスティックジッタ成分に分類することができ、ジッタ・トラックやヒストグラムの様な可視化ツールによって視覚的に観察することができます。
柔軟なDDR計測パラメータ
DDR固有の計測パラメータが用意され、システム・パフォーマンスを定量的に容易に解析することができます。プリ-コンプライアンス、デバッグおよびシステム開発用として最大12個の計測パラメータが同時表示可能です。
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4つの計測シナリオ
計測の設定で各シナリオは独立に信号を指定でき、解析の自由度が高くなっています。例えば、複数DQレーンに対するwriteおよびreadバースト間のシステム・パフォーマンスの比較が簡単に設定できます。最大4つの計測シナリオに対する同時解析により計測プロセスを単純化し、別個に測定することによる結果に違いが出る問題を避けることができます。
最適化テストのためのリファレンス・シナリオ
リファレンス・シナリオはパフォーマンス・チューニングや最適化テストを容易にします。ユーザはどの計測シナリオでも保存してリファレンス・シナリオにすることができます。その後回路側の設定に変更を加えてパフォーマンス特性の変化を観察します。計測パラメータはいつでもリファレンス・シナリオに追加したり削除したりできます。したがってテストの始めに全部設定しておかなければならないという心配はありません。
バースト中の特定部分の解析
設定変更可能なqualifireを使うと、DDRデバッグ・ツールキットの全ての解析において、最初の”n”ビットを含めるか、無視するかを設定することができます。これによりシステムが特定条件下でどの様な振る舞いをするか深く知ることが可能になります。例えば、こういった解析は、システムがプリアンブルを含めるとどの様に振る舞うか、あいはそれ以外のバーストの中心部ではどの様に振る舞うのかを詳しく知るために使用します。
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