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代替機種

物理層解析
DVI/HDMI


 

DVI 計測システム #1
WaveMaster-DVI

  
高精細のLCDモニターやPDPモニターなどデジタル・ディスプレイの発展で、DVI(Digital Visual Interface)機器の開発が盛んです。DVIは完全なデジタル伝送なので、アナログ方式に比べて高品質の画像表示が得られます。また、HDTVやDVDをはじめとする多くの家電製品もDVIの対応が急がれています。

UXGAなどでは、データ転送速度が悠に1Gbpsを越えるため高速なオシロスコープが必須です。

レクロイのDVI計測システムはDDWGの試験方法に準拠した測定ができるだけでなく、ロング・メモリと高速演算機能を駆使したジッタ、スキューの解析により今まで発見するのが困難であった問題点をクリアにします。

図1 DVI計測システム

図2 DVI信号のテスト・ポイント

主要スペック

対象信号 DVI準拠
解像度 VGA(640×480)〜UXGA(1600×1200)以上
 

アイパターン試験(マスク・テスト)


トランスミッタ、コネクタ、ケーブル、レシーバの試験ではオシロスコープを使ったアイパターン測定を行います。

測定にはDDWGより入手できるテスト・フィクスチャ(TPA-P、TPA-Rなど)を使い、再生クロックでトリガをかけてデータ信号のアイ・パターンを測定します。

図3 アイ・パターン測定のブロック図

図4 アイ・パターンによるマスク試験

 

 

パラメータ・テスト


立上り時間、オーバシュートや、イントラ/インター・スキューなどのパラメータ測定を行います。

WaveMasterシリーズでは、ロングメモリで捕捉したすべてのサイクルについて指定したパラメータ測定が行われます。平均値、最大・最小値、標準偏差などを数値表示すると同時に全測定値のヒストグラム解析が可能です。

図5 波形のパラメータ測定例

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LeCroy DVI Resources
セミナー資料「DVI信号解析方法」 - PDF File Format - size 8.1 MB
 

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