SDA-PCIE-G2PCI Express Gen1/Gen2対応コンプライアンス・テスト・パッケージ |
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業界初となる、PCI Express Gen1およびGen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2は、オシロスコープによる物理層試験とプロトコル・アナライザによるプロトコル試験を統合した業界初の完全なパッケージで、PCI ExpressのGen1に対応したコンプライアンス・テスト・パラメータ試験とGen2に対応した暫定評価試験を提供します。
このパッケージを用いることで、PCI ExpressのGen2で要求される様々な試験項目に対応し、開発時間の短縮に寄与します。特にシリアル・データ・アナライザSDA11000との組み合わせPCI Express Gen1およびGen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2では、Gen2における信号の高速化に伴う、高い時間軸精度とジッタ計測制度の要望を高いレベルでクリアすることで最適の評価パッケージとなります。対応試験項目についてはGen2の仕様が確定するまでは、策定の動向に対応してアップグレードし、常に最新のパッケージを提供していきます。SDA-PCIE-G2には、自動試験スクリプト開発用アプリケーション・フレームワークX-Replayが提供され、高度な自動化が行えます。 Gen2への対応シリアル・データ・アナライザSDA11000を用いることで、下記のような基本性能を活用した高度な信号評価解析が行えます。測定項目に関しては、PCI-SIGでの仕様策定動向を反映し、最新のパッケージをソフトウエア・アップグレードで提供します。
Gen1への対応シリアル・データ・アナライザSDA6020とPCI Express Gen1/Gen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2の組み合わせで、Gen1における測定/評価要求に完全に対応したパッケージを提供します。SDA6020は、Gen1の信号測定で高い精度を保証する以下のような基本機能を有します。
設計確認のための完全なチェックリストSDA-PCIE-G2はPCI Expressの装置開発を完璧にサポートします。機能開発作業においてステップ・バイ・ステップでチェックすることが出来る完全なチェックリストを提供し、以下に示すコンプライアンス試験の実施も可能です。
電気設計試験の統合システムレクロイのPCI Expressのプロトコル・アナライザとトラフィック・ジェネレータをこのソフトウエア・パッケージに統合することが出来るので、Generation 1用に策定されたPCIe Electrical Design Considerationの必要な条件に沿った試験項目を幅広くカバーすることができる唯一のパッケージとなります。PETracerプロトコル・アナライザ、およびPETrainerトラフィック・ジェネレータを一緒に利用することにより、全てのタイプのPCI Expressのトランザクションを捕捉、表示、発生、応答することができます。また、ホスト・エミュレーション・プラットホームは、試験対称装置を制御する簡単な手段を提供します。 PLL設計PCI Expressの設計者は、クロック・リカバリ回路とPLLを使ったクロック抽出に多くの注意を払います。SDA-PCIE-G2には自由度の高いクロック・リカバリ・オプションがあり、等価的にどのようなPLLの構成でもシミュレーションすることが可能です。これにより、PLLの設定を変えながら、その各々で動作をシミュレーションし、その影響を評価することができます。さらに、リファレンス・クロックとトランスミッタ・ジッタが計測も可能です。
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対応試験項目 | |
General Measurement | |
Test 1.1 - Bit Rate | PHY.3.1#1 |
Test 1.2 - SSC modulation index | PHY.3.1#2 PHY.3.1#3 |
Test 1.3 - SSC tracking | PHY.3.1#4 |
Transmitter Tests | |
Test 1.4- Unit Interval | PHY.3.3#2 |
Test 1.5- Transmitted Eye Parameters | PHY.3.2#1 PHY.3.2#2 PHY.3.3#1 PHY.3.3#4 PHY.3.3#9 |
Test 1.6 - DC CM Voltage | PHY.3.1#12 |
Test 1.8 - Receiver Detection | PHY.3.1#14 |
Test 1.15 - Electrical Idle Transition | PHY.3.3#6 |
Test 1.9 - CMM | PHY.3.1#17 |
Test 1.5 - Transmitted Eye - Mobile Graphics | PHY.3.2#14 |
Test 1.17 - Vdd stability | PHY.3.1#30 PHY.3.1#31 PHY.3.1#32 PHY.3.1#33 |
Receiver Tests | |
Test 1.21 -Rx AC Voltage, Eye and Jitter | PHY.3.4#1 PHY.3.4#2 PHY.3.4#6 EM.4#22 |
Test 1.22 - Electrical Idle Detection | PHY.3.4#3 |
Test 1.23 - Rx data within inter lane skew | PHY.3.4#9 |
Add-in Cards | |
Test 1.5 - Add In Card Transmitted Eye | EM.4#19 |
Test 1.27 - Entering Link Training State | EM.2#27 |
Test 1.28 - x8 Card Operation in x4 Card | EM.6#4 |
Test 1.31 - Power Consumption Limits | EM.4#23 |
System Tests | |
Test 1.5 - System Card Eye Parameters | EM.4#20 |
Test 1.26 - System Card Power Limits | EM.4#7 |
PCI Express Gen2用 推奨組み合わせ | |
シリアル・データ・アナライザ 11 GHz, 40 GS/s 16 Mpts (2ch時) |
SDA11000 |
PCI Express Gen1/Gen2対応 コンプライアンス・テスト・パッケージ |
SDA-PCIE-G2 |
11GHz差動プローブ | D11000PS |
PCI Express Gen1用 推奨組み合わせ | |
シリアル・データ・アナライザ 6 GHz, 20 GS/s 4 Mpts in 4 ch |
SDA6020 |
PCI Express Gen1/Gen2対応 コンプライアンス・テスト・パッケージ |
SDA-PCIE-G2 |
7GHz 差動プローブシステム | WL600ST |
PCI Expressアナライザ/エキササイザ PE Tracer/Trainer ML x4 |
PE002APA-X |
PE Trainer ML Host Emulation Platform | 800-0082-00 |
関連資料 | ||
PCI Express解析トータルソリューション (2006年11月発行 LJDN-CT-GE-0260-0004) |
PDF File 1MB | |
エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-2】 PCI Express Gen2対応コンプライアンス・テスト・ソリューション「SDA-PCIE-G2」 |
PDF File 300K |