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SDA-PCIE-G2

PCI Express Gen1/Gen2対応コンプライアンス・テスト・パッケージ


業界初となる、PCI Express Gen1およびGen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2は、オシロスコープによる物理層試験とプロトコル・アナライザによるプロトコル試験を統合した業界初の完全なパッケージで、PCI ExpressのGen1に対応したコンプライアンス・テスト・パラメータ試験とGen2に対応した暫定評価試験を提供します。

PCI Express Gen1/Gen2対応コンプライアンス・テスト・パッケージ

このパッケージを用いることで、PCI ExpressのGen2で要求される様々な試験項目に対応し、開発時間の短縮に寄与します。特にシリアル・データ・アナライザSDA11000との組み合わせPCI Express Gen1およびGen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2では、Gen2における信号の高速化に伴う、高い時間軸精度とジッタ計測制度の要望を高いレベルでクリアすることで最適の評価パッケージとなります。対応試験項目についてはGen2の仕様が確定するまでは、策定の動向に対応してアップグレードし、常に最新のパッケージを提供していきます。SDA-PCIE-G2には、自動試験スクリプト開発用アプリケーション・フレームワークX-Replayが提供され、高度な自動化が行えます。

Gen2への対応

シリアル・データ・アナライザSDA11000を用いることで、下記のような基本性能を活用した高度な信号評価解析が行えます。測定項目に関しては、PCI-SIGでの仕様策定動向を反映し、最新のパッケージをソフトウエア・アップグレードで提供します。

  • 11GHzの帯域と+/-0,5dBの優れたフラットネスが、6.25Gbpsまでのシリアル・データ信号を高い忠実度で捕捉
  • 100Mワードのロングメモリ捕捉を最高40GS/sの高速サンプリングで実現
  • 低周波成分まで捕らえる連続12MUIの単発捕捉
  • 最適な周波数応答および位相応答が保証する信頼性の高いアイパターン
  • D11000PS差動プローブシステムとの組み合わせで得られる、11GHzの帯域と超低負荷効果

Gen1への対応

シリアル・データ・アナライザSDA6020とPCI Express Gen1/Gen2対応のコンプライアンス・テスト・パッケージSDA-PCIE-G2の組み合わせで、Gen1における測定/評価要求に完全に対応したパッケージを提供します。SDA6020は、Gen1の信号測定で高い精度を保証する以下のような基本機能を有します。

  • 6GHzの帯域と最高20GS/sの高速サンプリング速度
  • 高精度で再現性の良いジッタとビット・エラー解析
  • 1ps以下の低ジッタ・ノイズ・フロア
  • WaveLinkシリーズ差動プローブとの組み合わせで6GHzの帯域を保証

設計確認のための完全なチェックリスト

SDA-PCIE-G2はPCI Expressの装置開発を完璧にサポートします。機能開発作業においてステップ・バイ・ステップでチェックすることが出来る完全なチェックリストを提供し、以下に示すコンプライアンス試験の実施も可能です。
  • ビット・レイトSSC変調度を含む一般的な計測
  • システム・カードのアイパターン・パラメータ、受信検出、エレクトリカル・アイドル検出を含むシステム試験
  • AC電圧、アイとジッタの様に、レシーバー・テスト、最大消費電力のようなアドイン・カード試験
  • ユニット・インターバル、送信アイパターンを含むトランスミッタ試験

電気設計試験の統合システム

レクロイのPCI Expressのプロトコル・アナライザとトラフィック・ジェネレータをこのソフトウエア・パッケージに統合することが出来るので、Generation 1用に策定されたPCIe Electrical Design Considerationの必要な条件に沿った試験項目を幅広くカバーすることができる唯一のパッケージとなります。PETracerプロトコル・アナライザ、およびPETrainerトラフィック・ジェネレータを一緒に利用することにより、全てのタイプのPCI Expressのトランザクションを捕捉、表示、発生、応答することができます。また、ホスト・エミュレーション・プラットホームは、試験対称装置を制御する簡単な手段を提供します。

PLL設計

PCI Expressの設計者は、クロック・リカバリ回路とPLLを使ったクロック抽出に多くの注意を払います。SDA-PCIE-G2には自由度の高いクロック・リカバリ・オプションがあり、等価的にどのようなPLLの構成でもシミュレーションすることが可能です。これにより、PLLの設定を変えながら、その各々で動作をシミュレーションし、その影響を評価することができます。さらに、リファレンス・クロックとトランスミッタ・ジッタが計測も可能です。


SSCトラッキングを簡単に実現

最新のPCI Express仕様では、リファレンス・ジッタの計測をする際に、トランスミッタ信号の中のスペクトラム拡散クロック(SSC)の周波数成分をデコンボリューションする必要があります。送信データとして、変調周波数、SSCデータ・トラッキングも評価しなければなりません。さらにGen2仕様では、SSC(4.3.3.2)とジッタ試験でクロック・リカバリに3ポールの伝達関数が決められています。これら、非常に多くの複雑な処理が要求されますが、ロングメモリと強力な解析ライブラリにより、検査プロセスを簡素化することができます。
 

レポートの自動作成機能

計測結果はしばしば要約されて、仕様と比較確認をするために表形式に集計されます。SDA-PCIE-G2は、X-Replayというユニークなアプリケーション・フレームワークにより、現行のソフトウエア・パッケージとは一線を画しています。このX-Replayは、全ての保存された計測結果(生の波形データ、クロック・リカバリの設定、アイパターン計測パラメータを含む)がデータベースとして登録されるようになったアプリケーション・フレームワークです。これを利用することで、非常に高度なカスタム試験スクリプトの構築が容易に行えます。レポート作成エンジンは、データベースを利用して、テキストおよびグラフィック・ベースのカスタム・レポートの作成を簡便化します。従って、作成されたスクリプトに応じた試験結果をカスタマイズされた形式のレポートにまとめるといった一連の作業を、簡単に実行することができます。

こうした機能は、特に次のような環境でお役に立ちます。

  • チップセット開発者: デバイスのパフォーマンスを決定するのに、パラメータを買えながら多様なパフォーマンス試験を必要とする
  • デバイスの開発チーム: 開発サイクルを同時に並行で走らせている研究と、パフォーマンスデータの解釈依然行った開発との相関をコンバインする必要がある
  • 製造/生産の試験環境: 管理図や他のデバイスのパフォーマンスを他の製造過程のインジケータを使って、鍵となるパフォーマンスパラメータをモニターする。

PCI Express Gen1/Gen2対応コンプライアンス・テスト・パッケージ

仕様

対応試験項目  
General Measurement  
Test 1.1 - Bit Rate PHY.3.1#1
Test 1.2 - SSC modulation index PHY.3.1#2
PHY.3.1#3
Test 1.3 - SSC tracking PHY.3.1#4
Transmitter Tests  
Test 1.4- Unit Interval PHY.3.3#2
Test 1.5- Transmitted Eye Parameters PHY.3.2#1
PHY.3.2#2
PHY.3.3#1
PHY.3.3#4
PHY.3.3#9
Test 1.6 - DC CM Voltage PHY.3.1#12
Test 1.8 - Receiver Detection PHY.3.1#14
Test 1.15 - Electrical Idle Transition PHY.3.3#6
Test 1.9 - CMM PHY.3.1#17
Test 1.5 - Transmitted Eye - Mobile Graphics PHY.3.2#14
Test 1.17 - Vdd stability PHY.3.1#30
PHY.3.1#31
PHY.3.1#32
PHY.3.1#33
Receiver Tests  
Test 1.21 -Rx AC Voltage, Eye and Jitter PHY.3.4#1
PHY.3.4#2
PHY.3.4#6
EM.4#22
Test 1.22 - Electrical Idle Detection PHY.3.4#3
Test 1.23 - Rx data within inter lane skew PHY.3.4#9
Add-in Cards  
Test 1.5 - Add In Card Transmitted Eye EM.4#19
Test 1.27 - Entering Link Training State EM.2#27
Test 1.28 - x8 Card Operation in x4 Card EM.6#4
Test 1.31 - Power Consumption Limits EM.4#23
System Tests  
Test 1.5 - System Card Eye Parameters EM.4#20
Test 1.26 - System Card Power Limits EM.4#7

 

PCI Express物理層コンプライアンス・テスト・ソリューション

PCI Express Gen2用 推奨組み合わせ 
シリアル・データ・アナライザ
11 GHz, 40 GS/s 16 Mpts (2ch時)
SDA11000
PCI Express Gen1/Gen2対応
コンプライアンス・テスト・パッケージ
SDA-PCIE-G2
11GHz差動プローブ D11000PS
PCI Express Gen1用 推奨組み合わせ 
シリアル・データ・アナライザ
6 GHz, 20 GS/s 4 Mpts in 4 ch
SDA6020
PCI Express Gen1/Gen2対応
コンプライアンス・テスト・パッケージ
SDA-PCIE-G2
7GHz 差動プローブシステム WL600ST
PCI Expressアナライザ/エキササイザ
PE Tracer/Trainer ML x4
PE002APA-X
PE Trainer ML Host Emulation Platform 800-0082-00

 

関連資料
PCI Express解析トータルソリューション
(2006年11月発行 LJDN-CT-GE-0260-0004)
PDF File 1MB
エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-2】
PCI Express Gen2対応コンプライアンス・テスト・ソリューション「SDA-PCIE-G2」
PDF File 300K