PCI Express 物理層解析
 PCI Express


PCI Express Gen2
コンプライアンス・テスト SIGTEST方式 

主機能

SDA13000(シリアル・データ・アナライザ)を使えば、PCI Express 2.0の信号を捕捉し、SigTest(PCI-SIGのコンプライアンス・ソフトウェア)を使って、すばやく解析することができます。SDA13000は、単発の捕捉で1MUIの信号を捕らえることのできる長いメモリを搭載しています。捕捉された波形は、TRCフォーマットで保存ができ、SigTestによって迅速に解析することができます。

強力なSDAの解析ツールは、設計のデバッグを支援します。レクロイのオシロスコープの操作性に優れたユーザ・インタフェースを使うと、PCI Express 2.0の波形を捕捉するための適切な設定を簡便に行えます。

標準のシリアル・データ解析ツールに組み入れられているのは、PCI-SIGのPCI Express Gen2仕様で規定される14のマスク、3つのPLLと2つのジッタ・フィルタです。

PCI Exrpess Gen2の14のマスクが、SDAソフトウェアに搭載されています。
 

コンプライアンス・テスト必須の全てのPLLが利用できます。
 

PCI Exrpess Gen2仕様によって規定された2つのジッタ・フィルタを使って、すばやくジッタ源を確認することができます。
 

 Summary表示では、PCI Exrpessの設計者が必要とする情報を一度に見ることができます。

Base Specificationの測定

項目 レクロイの
パラメータ
項目 レクロイの
パラメータ
UI BitRateパラメータ Vtx-cm-ac-p  
VTxDiffP-P VTxDiffP-P Vtx-cm-ac-pp  
VTxDiffP-PLow VTxDiffP-P Itx-short  
Vtx-de-ratio-3.5dB VTxDeRatio Vtx-dc-cm mean
Vtx-de-ratio-6dB VTxDeRatio Vtx-cm-dc-active-
idel-delta
mean
Tmin-Pulse TMinPls Vtx-cm-dc-line-delta mean
Ttx-eye   Vtx-idel-diff-ac-p filter、pkpk
Ttx-hf-dj-dd Filterd Jitter Vtx-idle-diff-dc filter、pkpk
Ttx-lf-RMS Filterd Jitter Vtx-rcv-detect (カーソル)
Ttx-rise-fall TxRise、TxFall Ttx-idel-min  
trf-mismatch TxRise、TxFall Ttx-idel-set-to-idle 同上
BWtx-pll-   Ttx-idle-diff-deta 同上
Ztx-diff-dc   Tcrosslink  
    Ltx-skew SD2skew
    Ctx  

必要機材

SDA13000 シリアル・データ・アナライザ、13GHz
D13000PS 差動プローブ・システム、13GHz
SDA-LNES* 低雑音エッジ・シェーパ(システム試験のみ)
LNES-2ADA-SMPSMA SMP-SMAアダプタ2個(システム試験のみ)
LNES-2CAB-SMA036 適合するSMP(F)- SMA(M)ケーブル2本
(アドインのカード試験のみ)
LPA-SMAアダプタ2個(アドインのカード試験)
負荷としてハードディスクとATX電源(アドインのカード試験)
マッチングのとれたSMP(F)- SMA(M)ケーブル2本
PCI Express 2.0用PCI-SIGコンプライアンス・ベース・ボード (アドインのカード試験用)
PCI Express 2.0用PCI-SIGコンプライアンス・ロード・ボード (x1/x16またはx4/x8)(システム試験用)
SMPターミネータ(F)(未使用出力の終端用)

*LNES-2ADA-SMPSMAとLNES-2CAB-SMA036が含まれます。


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