Digital Scopes


Embedded Technology 2010 組込み総合技術展

多数のご来場ありがとうございました。

【組込み技術に取り組むレクロイ】
今年は、「組込み技術に取り組むレクロイ」と題し、2つのテーマで展示を行います。一つは組込み機器の設計・試作・製造を通して日々必要とする計測をテーマとし、アナログ系とロジック系を同時に観測するミックスド・シグナルオシロスコープを中心とした展示を行います。もう一つは、高速伝送を目的とした計測ソリューションの展示として、USB3.0を中心とした当社のトータル・ソリューションの展示を行います。

新製品の紹介として、世界最広帯域のリアルタイム・オシロスコープWaveMaster8Zi-Aシリーズとシグナルインテグリティ・ネットワークアナライザSPARQも展示いたします。是非「組込み技術に取り組むレクロイ」をご覧下さい。

【会期】

2010年12月1日(水)〜3日(金)
10:00〜17:00

【会場】

パシフィコ横浜
会場アクセス

【ブース】  A-17

【入場料】

事前登録及び招待状持参の方は無料

【主催】

社団法人 組込みシステム技術協会(JASA)
ウェブサイト

無料カンファレンス(要事前登録)

アナログデザイントラック AD-2

12月2日 (木)  11:15〜12:15
アネックスホール[F203]

シグナル・インテグリティにおけるS-パラメータとシミュレーションの活用とデバッグの実例

【講演概要】

伝送路をSパラメータでエミュレーションすることは、USB3.0やSATAなどで試験規格に規定され、先進の高速シリアル・バスにおいて必須の手法となっている。信号品質を見極めるシグナル・インテグリティ分野におけるSパラメータの活用は重要性を増しているが、ここでは、その活用の実例としてメモリ・システムにおけるデバッグでの活用例と、安価で簡単に40GHz、4ポートのSパラメータを測定する新しいソリューションを紹介する。

辻 嘉樹 氏
レクロイ・ジャパン(株) プロダクト・マーケティング部 プロダクト・マーケティング・マネージャ

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【展示機種】

デジタル・オシロスコープ

プロトコルベース信号発生器

シグナルインテグリティ ネットワーク・アナライザ

任意波形発生器

 

 

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