SDA II

パワフルなシリアルデータ解析により設計の検証および規格適合の確認を行えます。あるいはなぜデバイスやホストがコンプライアンステストに不適合かの原因を究明します。









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主な機能と特長
  • クロックとデータ信号のための総合的なジッタ・タイミング解析
  • ジッタやアイダイアグラム解析の多様な表現形式:Eye Diagram, IsoBER, DDj Plot, Digital Pattern, DDj Histogram, Jitter Track, PLL Track, Jitter Spectrum (with peak annotation), Spectrum Threshold, Pj Inverse FFT, Jitter Histogram, CDF, Bathtub, and NQ-Scale
  • ビット・エラー・レート一定のライン(BER等高線)を重ねて表示可能(IsoBER)。
  • ソフトウェアPLLは2ポールまで設定可能
  • 2種類のジッタ分離アルゴリズムを同時に適用して高い信頼性の解析結果を提供。
  • Quick View機能を使用してアイダイアグラム、TIEトラック、バスタブ・カーブ、ジッタ・ヒストグラム、NQスケール、ジッタ・スペクトラムを同時に1画面に表示
  • 統計的有意性を最大化させるためアクイジションされた波形全てを使いアイパターンを作成可能
  • 完全なData Dependent Jitter (DDj)分解やDDjヒストグラムやDDjプロット、InterSymbol Interference (ISI)パラメータやISIプロット表示
  • 完全なRandom Jitter (Rj) + Bounded Uncorrelated Jitter (BUj)をヒストグラム、スペクトラム、トラック形式で表示
  • Periodic Jitter (Pj)解析はPj成分をタイムドメインで表示

強力なSDA IIシリアル・データ解析

製品特性の検証やコンプライアンス判定、ホストやデバイスのコンプライアンス試験で不合格になった原因を突き止めるためシリアルデータ解析能力を提供します。

しかし、デバイスがなぜコンプライアンス試験を不合格なったをどのように決定するのでしょうか?SDA IIシリアルデータ・デバック・ソフトウェアはシリアルデータ・コンプライアンス不合格の根本原因を見つけるパワフルで多様なソリューションを提供します。SDA II は正常な機能を保障する必要があるユーザーに確かさを提供します。

SDA IIのアイやジッタ解析を利用したデバック

SDA II解析パッケージはオシロスコープのソフトウェアに完全に一体化されたジッタ計測のソリューションを提供し、ジッタ計測で製品に高い信頼性をもたらします。

現在のアイ開口度による非定量的な表示にIsoBERのような新しい機能が追加されました。更にデュアル・アイ表示モードや波形がマスクにかかる部分をマーク表示する機能がアイの不具合の原因を素早く調査することを助けます。

シリアルデータ信号でRjやDjの間の正確に分離は全ジッタを下げる重要な部分です。例として、Periodic Jitter Spectrumは周期ジッタが起こる周波数を正確に見つけることができ、DDjヒストグラム表示はData Dependent Jitter (DDj)の分布を表示します。これらの新しい機能はジッタの原因を調査することができる高いレベルを提供します。

デュアル・アイ表示モード

デエンファシスされたシリアルデータ波形は'0→1'や'1→0'に変化する遷移ビットと'11'や'00'が並ぶ非遷移ビットでは波形が異なります。デュアル・アイ表示モードは遷移ビットと非遷移ビットのアイダイアグラムを別々に分けて表示できます。この他に別チャンネル信号のHi, Lowから2つに分けてアイ表示するゲートモードも提供しています。

Show Mask Failures

Mask failuresはマスクを通過する信号の正確な位置を赤丸でハイライト表示することができます。更にマスクにかかる数をパラメータとして表示することができます。多数の信号規格用のマスクが用意され、それらのマスクのマージンをユーザーがコントロールすることができるようにマスクを垂直/水平方向に伸ばす事ができます。

IsoBER

マスク試験は垂直方向のノイズやジッタの定量的な解析が不足しているため、信号が必要とされるBit Error Rateを満たしているかをチェックする最適な方法とは限りません。レクロイのIsoBER解析ツールはアイダイアグラムにビット・エラー・レイトが一定である環状のプロットを重ねた、等高線図を表示します。これは最小のアイ開口度や垂直方向にアイが狭くなることを解析することによりクロストークの特定を助けます。これらの計測は通常のアイダイアグラムでは行うことができません。

単純化したジッタ分解

ジッタのソースはDeterministicと Randomにカテゴリ分けすることができ、信号のトータル・ジッタの計算で重要な識別となります。しかしクロストークや他のタイプのDj成分が混入した信号ではランダムジッタの中にそれらの成分が誤って計算されてしまいます。

レクロイのSDAIIジッタ解析はこれらの状態を明らかにする2つの分離アルゴリズムを用意しています。全てのジッタ成分が正確に認識され、正しく処理されるこのアルゴリズムは信頼を提供します。ジッタの分解は同時にその両方ともに計算し、その結果に違いがあるかすぐに理解することができます。

直感的なジッタブレークダウン表示

レクロイのSDA IIシリアルデータ解析は根本的な原因を素早く調査するジッタ分解の直感的な表示を提供します。

SDA IIはDjの値を理解する次のようなツールを用意しています。

  1. Data Dependent Jitter (DDj)の分布をより理解しやすいDDJヒストグラム
  2. Pjの最も高い値を含む要因の特定にPeriodic Jitter Spectrum
  3. システムのトータルジッタの視覚的表現を行うアイダイアグラム
  4. ビットパターンによる符号間干渉の影響を特定するISI Plot

設定警告インジケータ

操作方法に問題がある場合、ソフトウェアが赤色、黄色、緑色のインジケータでユーザーに警告します。例として、クロックを計測しているにもかかわらず、信号タイプとしてクロックが選択されていない場合、次のように黄色のインジケータで設定に矛盾があることをユーザーに知らせます。

フローダイアグラム

SDA IIのアイやジッタ解析を簡単に始めるに、フローダイアグラムがアイ計測、ジッタ計測、またその両方を同時に設定する際に直感的なガイドを行います。

アイとジッタ・パラメータ・テーブル

SDA II は全てのアイ・パラメータとジッタ・パラメータを同時に表示することができます。関係のあるパラメータ計測の全てを1つの画面に表示させることができ、デバックの迅速な判断を可能とします。

ISI Plot

ISIプロットは捕捉したシリアルデータ信号の同じビットパターン毎にアベレージングをしてランダムジッタを除去し、再びアイパターン表示します。 SDAシリーズのISI表示では、ユーザが選択したビット数で、個別のバターンを表示させることができるため、各ビットパターンから派生するISIのDj成分を確認することが可能です。

柔軟な表示モード

SDA IIはアイ・ダイアグラムやジッタ解析の表示位置を柔軟に設定できる表示モードを提供します。

 

ジッタ・スペクトラム
  • Jitter Spectrumプロットは周期ジッタの表示を可能にします。
  • ピーク・アノテーション表示はスペクトラムの周波数を直接表示します。
  • スペクトラムプロットはDDj成分を取り除いたスペクトラムの表示を可能とします。

ジッタ・トレンド
  • ジッタのタイムドメイン表示はジッタヒストグラムの表示は観測できない一時的なジッタイベントを表示します。
  • ジッタトレンドは静的でないジッタをクリアに表示します。
ヒストグラムとバスタブ
  • 計測されたジッタヒストグラムは複数の山からなる分布やや分布の両サイドがガウス曲線ではない独特なジッタ分布をクリアに表示します。・生データ表示はジッタブレークダウン表示により失われたジッタの振る舞いを出来る限り表示します。
  • この処理されていない表示はジッタブレークダウンやバスタブ・カーブで高度な信頼を与えます。
Eye Patterns Show Mask Violations to the Bit
  • アイパターン計測は一時的なジッタやノイズイベントを捕捉した連続した800万ビットまで計測します。
  • 連続したビットのアイパターン解析はマスクに違反したここのビットの波形形状の計測を可能にします。
  • 高速のUI累積や非常に低いジッタノイズフロア
トータル・ジッタ

トータルジッタを計測する完全なツールセットを提供します。100万のUIで作られたアイダイアグラムが512Mポイントまでのレコードから素早く計算されます。そして先進のツールが解析を助けるためにアイダイアグラムで使われる可能性があります。完全なチエやトータルジッタパラメータや解析機能が提供されます。

  • Time Interval Error (TIE) Measurement Parameter, Histogram, Spectrum and Jitter Track
  • Total Jitter (Tj) Measurement Parameter, Histogram, Spectrum
  • Eye Diagram Display (sliced)
  • Eye Diagram IsoBER (lines of constant Bit Error Rate)
  • Eye Diagram Mask Violation Highlight and Statistics
  • Eye Diagram Measurement Parameters
    • Eye Height
    • One Level
    • Zero Level
    • Eye Amplitude
    • Eye Width
    • Eye Crossing
    • Avg. Power
    • Extinction Ratio
    • Mask Hits
    • Mask Out
    • Bit Error Rate
    • Slice Width (Setting)
  • Q-Fit Tail Representation
  • Bathtub Curve
  • Cumulative Density Function (CDF)
  • PLL Track
ジッタ分解モデル

2つのジッタ分解モデルが使われ、計測の信頼性を最大限提供します。Q-Scale, CDF, Bathtub Curve, ジッタ分解計測パラメータはどちらかの方式を使って表示させることができます。

  • Spectral Method*
  • NQ-Scale Method*

ジッタ分解のスペクトラムやNQ-Scale方式の違いについて更に詳しく知りたい場合は次のPDFを参照してください。

Random Jitter (Rj) and Non-Data Dependent Jitter (Rj+BUj)?Random Jitter (Rj) Measurement Parameter

  • Rj+BUj Histogram
  • Rj+BUj Spectrum
  • Rj+BUj Track

Deterministic Jitter (Dj)?Deterministic Jitter (Dj) Measurement Parameter

Data Dependent Jitter (DDj)?Data Dependent Jitter (DDj) Measurement Parameter

  • DDj Histogram
  • DDj Plot (by Pattern or N-bit Sequence)


 

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オーダー・インフォメーション

モデル名  
SDA II シリアルデータ・デバック・ソフトウェア

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対応機種

外観 モデル名 帯域 備考
LabMaster 9Zi-Aシリーズ 13〜45GHz
WaveMaster 8Zi-Bシリーズ
SDA 8Zi-Bシリーズ
DDA 8Zi-Bシリーズ
4〜30GHz SDA, DDAモデルは標準搭載
WavePro 7Zi-Aシリーズ
SDA 7Zi-Aシリーズ
DDA 7Zi-Aシリーズ
1.5〜6GHz SDA, DDAモデルは標準搭載
WaveRunner 6Ziシリーズ 400MHz〜4GHz