高速インタコネクト・アナライザ
WavePulser 40iX

高速インタコネクト・アナライザ WavePulser 40iXは、一度の計測で、Sパラメータ(周波数軸)とインピーダンス・プロファイル(時間軸)の両方が得られ、高度な解析ツールを用いて比類なき高速インタコネクトの特性評価が行えます。

高速ハードウェア設計や試験を行うエンジニアにとって理想的な一台となります。

  •  
  •  
  •  

高速インタコネクト・アナライザ

型番 ポート数
WavePulser-40iX 4ポート、インタコネクト・アナライザ
DC-40GHzのSパラメータ、1mm以下の空間分解能のTDR、自動校正内蔵、位相整合ケーブル4本付き
WavePulser-40iX-BUNDLE 40GHz、4ポート、インタコネクト・アナライザとSi-KITのバンドル
WavePulser-40iX-SI-KIT WavePulser 40iX用アクセサリ・キット
OSTL校正キット(@40 GHz,  2.92 mm)、2.92mmメスーメス・アダプタ4個、ユニバーサル・レンチ、USBドングル(高機能解析ツールを有効化)、 高機能解析ツールには、Sパラメータ・デエンベッド/エミュレーション、イコライザ(CTLE, FFE, DFE, PLL)エミュレーション、アイパターン解析、ジッタ解析およびパターン依存検証が含む

主な機能と特長

  • Sパラメータ:DC〜40GHz、シングルエンドおよびミックスモード
  • インピーダンス・プロファイル1mm以下の空間分解能、差動およびコモン・モード
  • 内蔵自動OSLT校正
  • USB接続、小型軽量(高さ105mm × 幅305mm × 奥行230mm、3.3Kg)
  • 柔軟な計測結果の表示
  • フィクスチャ、コネクタやケーブルの特性を削除
  • イコライザ(CTLE、FFE、DFE)エミュレーションによるアイパターン表示
  • 先進のジッタ解析

Sパラメータ

DCから40GHzまで完全な周波数特性で、シングルエンド及びミックスモードのSパラメータに対応します。
内蔵自動校正機能が簡便で迅速に実行できます。
WavePulser-40iZ-BUNDLEには同梱さているOSLT校正キットを用いて、リファレンスプレーンを自在に移動させることができます。

インピーダンス・プロファイル

1mm以下の空間分解能を持ち、差動およびコモンモードのインピーダンス・プロファイルで不良個所を精密に特定できます。TDRとTDTの両方の機能があり、反射特性と伝送特性の検証ができます。

高度な解析ツール

WavePulser 40iXで計測した測定結果は、そのままシミュレーション、デエンベッドやタイム・ゲーティングなど高度な解析ツールで利用することができます。アイパターン表示では、イコライザの効果を反映することができます。高度なジッタ解析ではトータルジッタ(Tj)、ランダムジッタ(Rj)およびデタミニスティックジッタ(Dj)が計測できるだけでなく、Djの成分分離が行え、多様な形式でジッタを表示することができます。

内蔵自動校正

WavePulserには校正キットが内装され、校正は常にDUTに接続したまま自動で行われます。DUTに接続したら”Go"ボタンを押すだけです。WavePulserは、外部校正キットを購入する必要はありません。WavePulserのTDR/TDTをベースとした計測では計測セットアップに依存しないので、頻繁に校正する必要はありません。

DC〜40GHzまでの全帯域をカバー

WavePulserはDCから40GHzまでをカバーしているので、TDRのステップ応答とタイム・ゲートやエミュレーションした物理層の信号応答はDCに至る低周波部分を外挿する必要がありませんので、インタコネクト・システムの評価には最適です。

 

ページトップに戻る

基本仕様

ポート数 4
周波数レンジ DC〜40GHz
立ち上がり時間 8.5 ps
周波数軸測定 シングルエンドとミックスモードのSパラメータ
時間軸測定 インピーダンス・プロファイル、インパルス応答、ステップ応答、反射係数
校正方法 内蔵軸測定導校正と手動OSLT校正