物理層解析
Serial ATA


Serial ATA応用ソリューション
波形解析(ASDA-J)

ジッタ解析のみならず、波形解析においてもシリアル・データ・アナライザSDAは、様々な機能で対応します。


マスク・バイオレーション・ロケータ
アイパターン試験は、信号品質に影響するノイズ、ジッタ、歪などの要因を複合的に判断することが出来ます。従って、合否判定には最も優れた方法に一つであるといえますが、逆にデバッグ用としては複数の要因が複合的に混在しているために逆に困難さが生じてしまいます。SDAのオプションASDA-J(高機能シリアル・データ解析パッケージ)に搭載されたマスク・バイオレーション・ロケータでは、マスク試験で不良と判定された波形を個別に示すことが出来ますので、波形歪、ジッタ、ノイズ、反射やスパイクなどの要因の特定に威力を発揮します。
また、この時、その不良の要因として疑わしい信号を別の入力チャンネルで捕捉しておき、不良箇所の信号との相関の有無を調べることで、不良原因の特定が容易になります。

DDjの計測
DDj(データ・デペンデント・ジッタ)の評価には、繰り返しテスト・パターンを用い、その各エッジにおけるタイミング・エラーの大きさから計測することが一般的に行われます。計測されるDDjの値は、用いられるデータ・パターンに依存します。右に示した例はLBPパターンを使って計測したものです。パターンのどのエッジが最もエラーが大きいか特定することができます。

ISI評価
DDjの大きな要因はISI(符号間干渉)です。このISIは高速シリアル・データでは最重要課題の一つとされるものですが、レクロイのISIプロットを用いると、ランダム成分を低減し、ISI成分のみが寄与したアイパターンを観測することが出来るだけでなく、ワーストケースのデータ波形を確認することもできるので、不良原因の特定に役立ちます。


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